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韩系当中的现代途胜以110.2%的增长率排在了第三,总销量63.91万辆。从古代到今天,几乎所有的军队想从占领全中国,都是依靠速度从北方快速通过华北大平原南下,无论是蒙古南侵,明朝燕王陛下,还是满清入关......几乎都是一路主力过河北,下徐州,直插江南。PS:涉水险是只管发动机淹水造成的损失的,不管车辆的其他损失。

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厂商性质
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销售地区
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为宾客带来惬意海滨度假体验

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: Dimension Fastscan
  • 产地:美国
  • Dimension FastScan世界上扫描速度最快的原子力显微镜扫描速度的全新诠释,拥有最高的扫描分辨率,最优异的仪器检测性能 Dimension FastScanTM原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM),在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新,从根本上解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。 为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求,Bruker开发了这套快速扫描系统,不降低分辨力,不增加设备复杂性,不影响仪器操作成本的前提下,帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统,即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时,无论设置实验参数为扫描速度> 125Hz,还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像,都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。 高效率在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍,自动激光调节 和检测器调节,智能进针,大大缩短了实验时间。自动测量软件和高速扫描系统完美结合,大幅提高了实验数据 的可信度和可重复性。 高分辨率Fastscan精确的力控制模式提高图像分辨率的同时,延长了探针的使用寿命。扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像,扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。低噪音,温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。在任何样品上均有卓越表现闭环控制的Icon和FastScan的扫描管极大地降低了Z方向噪音,使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm,具有超低的热漂移率,可得到超高分辨的真实图像。Fast Scan可以对不同样品进行测量,保证高度从埃级到100多纳米的样品高精度无失真扫描。Dimension Fastscan是世界上第一台将扫描速度、分辨率、精确度和噪音控制完美结合的AFM,真正实现了快速扫描原子力显微镜的商业化应用。为了实现AFM扫描速度变革性的提升,Bruker的工程师致力于AFM技术的改造和完善。■采用最低热漂移的针尖扫描AFM技术,提高了系统的固有振动频率。■应用新的NanoScope控制器,为机器提供了更高的带宽。■开发了小悬臂的生产工艺,在空气中共振频率为1.3MHz,在液体中共振频率为250KHz到500KHz。■采用了低噪音的机械和电子的主要部件,结合高共振频率X-Y-Z扫描管,在技术上获得了重大突破。■更高的带宽提供了精确的力控制和高扫描速度,结合高精度的闭环控制,在效率上远远高于其它任何商业化的AFM。■以20Hz扫描速度进行TappingMode成像得到的图片的分辨率和以1Hz扫描速度得到的图片的分辨率一样高,即使使用更高的扫描速度>100Hz,图像分辨率同样不会降低。■在ScanAsyst模式中,使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片,即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。■Z方向,探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s,同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s, X-Y方向的跟踪误差<1%,真正使Fastscan成为了世界上第一台快速扫描AFM。■ 自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。■ 系统使用自带的样品导航软件MIRO,利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。最新的光学系统可以使用任何Bruker的探针,在不降低系统稳定性的前提下,得到最好的激光信号调节。■ 针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合,消除了样品尺寸的限制,同时维持了最低的噪音和热漂移水平。 AFM终极性能 Dimension FastScan AFM 优秀的分辨率,与Bruker特有的电子扫描计算方法相结合,提供给用户显著提升的测量速度与质量。Dimension Icon是我们工业领先的针尖扫描技术的最新革新,配置了温度补偿位置传感器,展现出Z轴亚埃级范围和XY轴埃级范围的噪音水平,这个惊人的性能出现在大样品台,34微米和90微米的扫描范围的系统上,尤胜高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ闭环扫描头的新设计也能展现较高扫描速度,而不损坏图像质量,实现更大的数据采集输出量。Icon 扫描管比当今市场上任何一款大样品台AFM具有更低的噪音水平和更高的精确度。这种革新与新的专利扫描和下针算法相结合,即使是在难测量的样品上也能得到更高的图像保真效果。 杰出的生产力 使用Dimension系列原子力显微镜发表的文章远比其他大样品台原子力显微镜要多。在科研和工业生产的过程研究中已成为一个标志性的符号。FastScan把此平台引入了更卓越的新水平,展现出更高的性能和更快地获得测量结果。其软件的直观工作流程,使其操作过程比以往最先进的AFM技术更加简便。可以使初学者在操作中,同样得到专家级的图像。Dimension FastScan用户可以立即获得高质量的结果,而无需像以前一样通常需要几小时的专业调整。Dimension FastScan的每个方面从完全开放式针尖样品空间,到预存软件参数设置都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的AFM操作简易性。每分钟低于200pm的热漂移速率,全新的直观用户界面,世界闻名的Dimension AFM平台,三者结合提供了无与伦比的AFM仪器性能,保证您在最短时间内得到测试结果并发表出版。 世界上最灵活的平台 Dimension FastScan 展现出的无与伦比的性能,坚固性和灵活度,使得这台仪器实现了以前只有在特制的系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台,大型多元样品支架和许多简单易用的性能,将AFM强大的功能完全展现在科研领域和工业领域的研究者面前,为高质量AFM 成像和纳米研究设定了新的标准。Dimension 系列原子力显微镜在不断演变提升,以迎合您不断增长的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力学、电学和电化学附件。 无与伦比的性能和多种附加模块满足您的一切科研需要 出众的性能满足各种应用需求 Dimension FastScan可同时高速捕捉多个通道的数据,获得更多通道的高质量数据。结合我们Bruker的很多AFM专利技术,模式和模式增强功能,Dimension FastScan以其独特的性能优势,帮助您完成更高水平的纳米研究。 材料成像 FastScan在使用ICON的扫描管的情况下支持Bruker的专利PeakForce QNMTM成像模式,在使用快速扫描扫描管的情况下可进行纳米力学成像。使用FastScan技术,大大减少了研究者获得高分辨率形貌和纳米力学图谱的时间。 纳米操纵 可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。FastScan的XYZ闭环扫描器解决了扫描管的蠕变效应,大大提高了操纵的精确度。同时超低噪音的精密探针的准确定位,适用于任何纳米操作系统。 加热和冷却 在以各种AFM 模式扫描的同时可实现-35℃到250℃的温度的精确控制和热分析。另外还可使用热探针对低于100nm的局部加热到500℃。 电学表征 使用专利的模式,可以在更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。PeakForce TUNA和PeakForce SSRM提供了独特的电学表征方法,同时还可以与样品上的力学属性相联系。 利用最短时间获得高质量可发表数据结果 无论是作为科研交流还是发表科学文章,Dimension FastScan可比以前快几十倍至上百倍获得专业精确的数据测量和高质量AFM图片。真正的快速扫描AFM系统使您能够运用简易方法对大量数据进行快速准确的处理分析。 样品筛选 利用AFM系统获取大量样品信,进行样品常规筛选。无论是材料生产中进行失效分析或纳米级的质量控制,及时的产品信息反馈是必不可少的产品质量控制过程。纳米表征面临提高表征速度的挑战时,高精准度成为必备条件。在获取药物配方的过程中需要大量的数据对其中的非晶药物成分进行筛选,这可能成为FastScan的一个新用途。 动态应用范例另一种常见的应用是观察一个纳米级物体在外部条件变化或受刺激的情况下,随着时间产生变化的过程。无论是在空气中还是在液体中,对纳米尺度的动态变化观察都是极具研究价值的。Dimesion FastScan为这种实验提供了极为便利的条件。布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频,观看最新的AFM产品和相关技术进展,以及历届网络研讨会和培训资料,精彩内容持续更新中!http://i.youku.com/u/UNDU0NDQ5MTEy布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail:Sales.asia@bruker-nano.com 产品咨询热线:400-890-5666 www.bruker.cn\AFM

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西来古镇位于蒲江县境内

  • 品牌: 苏州飞时曼
  • 型号: FM-Nanoview 1000
  • 产地:苏州
  • 1、 扫描探头和样品台集成一体,抗干扰能力强; 2、 精密激光及探针定位装置,更换探针及调节光斑简单方便; 3、 采用样品趋近探针方式,使针尖垂直于样品扫描; 4、 马达自动脉冲控制驱动样品垂直接近探针,实现扫描区域精确定位; 5、 高精度样品移动装置,可自由移动感兴趣的样品扫描区域; 6、 带光学定位的CCD观测系统,实时观测与定位探针样品扫描区域; 7、 模块化的电子控制系统设计

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时机恐怕尚早

  • 品牌:
  • 型号: NX-3DM
  • 产地:韩国
  • 自动化工业级原子力显微镜,助力高分辨率3D测量Park Systems推出革命性的NX-3DM全自动原子力显微镜系统,专为垂悬轮廓、高分辨率侧壁成像和临界角测量设计。借助独有的XY轴和Z轴独立扫描系统和倾斜式Z轴扫描器,NX-3DM成功克服精确侧壁分析中的法向和喇叭形头所带来的挑战。在True Non-Contact模式下,NX-3DM可实现带有高长宽比尖端的柔软光刻胶的无损测量。前所未有的精确度随着半导体越变越小,设计如今需要做到纳米级,但是传统的测量工具无法满足纳米级设计和制造所要求的精确度。面对这一行业测量挑战,Park Systems取得众多技术突破,如串扰消除,其可以实现无伪影和无损成像;全新的3D原子力显微镜,让侧壁和侧凹特征的高分辨率成像成为可能。前所未有的通量受限于低通量,纳米级设计无法用于生产质量控制中,但原子力显微镜让这一切成为可能。随着Park Systems发布革命性的高通量解决方案,原子力显微镜也得以进入自动化线上制造领域。这其中包括创新的磁性探针更换功能,成功率高达99%,高于传统的真空技术。此外,流程和通量优化需要客户积极配合,提供完整的原始数据。前所未有成本效益纳米测量的精确性和高通量需要搭配高成本效益的解决方案,才能够从研究领域扩展到实际生产应用中。面对这一成本挑战,Park Systems带来了工业级的原子力显微镜解决方案,让自动化测量更快、更高效,让探针更耐久!我们放弃了慢速又昂贵的扫描电子显微镜,转而采用高效、自动化且价格实惠的3D原子力显微镜,进一步降低线上工业制造的测量成本。现如今,制造商需要3D信息来表现沟槽轮廓和侧壁变异特征,从而准确找到新设计中的缺陷。模块化原子力显微镜平台实现快速的软硬件更换,从而是升级更划算,不断优化复杂且苛刻的生产质量控制测量。此外,我们的原子力显微镜探针使用寿命延长至少2倍,进一步减少购置成本。传统的原子力显微镜采用轻敲式扫描,这让探针更易磨损,但我们的True Non-Contact模式能够有效地保护探针,延长其使用寿命。* 应用侧壁和侧凹高分辨率成像侧壁和侧凹临界尺寸(CD)测量NX-3DM的倾斜式Z轴扫描器设计让探针能够扫描到光刻胶的侧壁和侧凹结构。 独有的XY轴和Z轴解耦扫描系统和倾斜式Z轴扫描器 Z轴扫描器可在 -19到+19度和-38到+38度之间随意摆动 法向高长宽比的探针带来高分辨率成像 XY轴扫描范围可达100 μm x 100 μm 高强度Z轴扫描器带来最大25 μm的Z轴扫描范围完整的侧壁3D测量高分辨率侧壁粗糙度借助超锋利的探针尖端,NX-3DM的倾斜式Z轴扫描器可接近侧壁,带来高分辨率的侧壁粗糙度细节。 侧壁粗糙度测量 精确的侧壁角度测量 垂直侧壁的临界尺寸测量True Non-Contact模式实现无损临界尺寸和侧壁测量光刻胶沟槽临界尺寸测量独有的True Non-Contact模式能够线上无损测量小至45 nm的细节。 业内最小的细节线上测量 柔软光刻胶无损测量 探针磨损更少,让高质量和高分辨率成像效果更佳持久 无需轻敲式成像中的参数依赖结果Park NX-3DM的特点倾斜式Z轴扫描系统NX-3DM独具匠心地将Z轴扫描器倾斜设计,且通过专利的串扰消除原子力显微镜平台,XY轴与Z轴扫描器完全解耦。用户可以扫描到垂直侧壁以及各种角度的侧凹结构。与配有喇叭形头的系统不同,XE-3DM可使用高分辨率高长宽比的探针。全自动图形识别借助强大的高分辨率数字CCD镜头和图形识别软件,Park NX-HDM让全自动图形识别和对准成为可能。自动测量控制自动化软件让XE-3DM的操作不费吹灰之力。测量程序针对悬臂调谐、扫描速率、增益和点参数进行优化,为您提供多位置分析。真正非接触模式和更长的探针使用寿命得益于专利的高强度Z轴扫描系统,XE系列原子力显微镜让真正非接触模式成为可能。真正非接触模式借助了原子间的相互吸引力,而非相互排斥力。因此,在真正非接触模式下,探针与样品间的距离可以保持在几纳米,从而盖上原子力显微镜的图像质量,保证探针尖端的锋利度,延长使用寿命。行业最低的本底噪声为了检测最小的样品特征和成像最平的表面,Park推出行业本底噪声最低(< 0.5?)的显微镜。本底噪声是在“零扫描”情况下确定的。由于悬臂与样品表面接触,因此系统噪声是在如下条件下单点测量:? 扫描范围为0 nm x 0 nm,探针停留在一个点? 0.5增益,接触模式? 256 x 256像素* 选项高通量自动化自动探针更换(ATX)借助自动探针更换功能,自动测量程序能够无缝衔接。该系统会根据参考图形测量数据,自动校正悬臂的位置和优化测量设定。创新的磁性探针更换功能,成功率高达99%,高于传统的真空技术。自动晶片装卸器(EFEM或FOUP)您可以在XE-3DM中加装自动晶片装卸器(EFEM或FOUP或其他)。高精度无损晶片装卸机械臂能够百分百保证NX-3DM用户享受到快速且稳定的自动化晶片测量服务。离子化系统NX-3DM可搭载离子化系统,以有效消除样品的静电电荷。由于系统随时可生产和位置正离子和负离子之间的理想平衡,便可以稳定地离子化带电物体,且不会污染周边区域。它也可以消除样品处理过程中意外生成的静电电荷。

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他在实验室一边做他装猫的大盒子

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: Multimode 8
  • 产地:美国
  • MultiMode平台是世界上应用最广泛的扫描探针显微镜(SPM),已经在全球成功安装使用了近万套。它的成功基于其领先的高分辨率和高性能,无与伦比的多功能性,以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在,MultiMode扫描探针显微镜以其独特的ScanAsyst模式,采用其先进的自动图像优化技术,使得用户无论具备什么技能水平,也能在材料科学,生命科学,聚合物研究领域的研究中最迅速地获得符合要求的研究成果。 SPM的控制电路也是影响性能的重要因素,第五代的NanoScope V控制器具有先进的数字架构:具有高数据带宽,低噪声数据采集和无与伦比的数据处理能力。布鲁克的最先进的技术已经开创工业上的新标准,例如:ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。 Multimode 的加热和制冷装置能对样品进行加热与制冷,适合于生物学,聚合物材料以及其他材料研究应用。采用加热和制冷装置后MULTIMODE 可在零下35oC到250 oC范围内对样品进行温度控制;并可以在水,溶液或缓冲剂的液体环境中进行扫描。当在气体环境下对样品进行扫描时,采用环境控制舱可以在大气压标准下控制环境气体的成分。技术参数:1. 显微镜:多种可选Multimode SPM扫描头AS-0.5系列:横向(X-Y)范围0.4μm×0.4μm,竖直(Z)范围0.4μmAS-12系列:横向(X-Y)范围10μm×10μm,竖直(Z)范围2.5μmAS-130系列:横向(X-Y)范围125μm×125μm,竖直(Z)范围5.0μmPF50:横向(X-Y)范围40μm×40μm,竖直(Z)范围20μm2. 噪声:垂直(Z)方向上的RMS值<0.3埃 (带防震系统的测量值)3. 样品大小:直径≤15mm, 厚度≤5mm4. 针尖/悬臂支架: ? 空气中轻敲模式/接触模式(标准) ? 液体中轻敲模式/力调制(可选) ? 空气中力调制(可选);电场模式(可选) ? 扫描热(可选-需要大的光学头或者外加的应用组件) ? STM转换器(可选) ? 低电流STM转换器(可选);接触模式液体池(可选) ? 电化学AFM或STM液体池(可选) ? 扭转共振模式(可选)5. 防震和隔音: ? 硅胶共振模式(可选) ? 防震三脚架(可选) ;防震台(可选) ? 集成的防震台和隔音罩(可选)主要特点:1. 世界上最高的分辨率2. 出众的扫描能力3. 优异的可操作性4. 非凡的灵活性与功能性5. 无限的应用扩展性Multimode可以实现全面的SPM表面表征技术,包括:?轻敲模式(Tapping Mode AFM)?接触模式(Contact Mode AFM)?自动成像模式(ScanAsyst)?相位成像模式(Phase Imaging)?横向力术模式(laterial Force Microscopy, LFM)?磁场力显微术(Magnetic Force Microscopy, MFM)?扫描隧道显微术(Scanning Tunneling Microscopy, STM)? 力调制(Force Modulation)? 电场力显微术(Electric Force Microscopy, EFM)? 扫描电容扫描术(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM)? 表面电势显微术(Surface Potential Microscopy)? 力曲线和力阵列测量(Force-Distance and Force Volume Measurement)? 纳米压痕/划痕(Nanoindenting/Scratching)? 电化学显微术(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM)? 皮牛力谱(PicoForce Force Spectroscopy)?隧道原子力显微术(Tunneling AFM, TUNA)? 导电原子力显微术(Conductive AFM, CAFM)? 扫描扩散电阻显微术(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM)? 扭转共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode)? 压电响应模式(Piezo Respnance mode, PR mode)?其他更多模式....E-mail:Sales.asia@bruker-nano.com产品咨询热线:010-5833 3252 www.bruker.cn\AFM布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频,观看最新的AFM产品和相关技术进展,以及历届网络研讨会和培训资料,精彩内容持续更新中!http://i.youku.com/u/UNDU0NDQ5MTEy布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail:Sales.asia@bruker-nano.com 产品咨询热线:010-5833 3252 www.bruker.cn\AFM

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快乐五一:连滩有郁南最大的盆地

  • 品牌: 法国CSI
  • 型号: Nano-Observer
  • 产地:法国
  • CSI原子力显微镜的详细介绍多种工作模式接触模式轻敲模式CAFM(导电AFM)PFM(压电力)MFM/EFM(磁力/静电力)FMM(力调制)HD-KFM(开尔文力)ResiScope(扩散电阻)STM最佳的电特性测量模块HD-KFM :市场上最高的分辨率和灵敏度更好的算法,更好的锁相灵敏度易用使用,自动调用智能算法ResiScope :10个数量级测量范围从100Ω~1TΩ之间(竞争者最多只覆盖了7个数量级)较低的电流流经探针/样品(不会局部氧化,不会因为高电流损害探针/样品)同时兼容AC模式成像和EFM/MFM模式或者HD-KFM模式,不用做任何变动而丢失样品的位置!Soft-ResiScope :仍然有10个数量级的测量范围,更适合软性样品成像和电阻/电流测量。适用于多种环境的测量温度控制:最高可达200°对于压电器件可以进行更稳定的加热分离(不漂移)与大气控制、液体模式和所有电测量模式(KFM,CAFM, ResiScope…)相兼容大气控制(气体和湿度):湿度控制不会损害光电探测器和激光器光电探测器和激光器可以正常调节对齐容易和快速设置与所有电测量模式(KFM,CAFM, ResiScope…)相兼容液体测量:压电保护激光容易对准(可以利用顶部CCD在空气中对准激光)非常稳定的轻敲模式的使用高品质的测量平移式压电扫描器:三轴独立低噪音,具有原子级分辨率最大100μm扫描,Z方向9μm智能化AFM低噪声低功耗相干激光器低噪音控制器(低电压驱动压电扫描器)24位DAC控制大范围扫描,高分辨率,且无需更换扫描器。易于使用自动调谐集成锁相自动设置的电子系统顶部和侧面CCD视图直观的软件和预先配置的AFM模式主要的参数指标1、XY扫描分辨率:0.06nm2、Z扫描分辨率:0.006nm3、扫描范围:XY向100um,Z向9um4、超低噪音高压:典型值:<0.01 mV RMS5、数据采样点:高达40966、DAC输出:6个D/A转换器-24位7、ADC输入:8个A/D转换器-16位8、集成锁相:高达6MHz9、控制器电源:AC 100~240 V,47~63 Hz10、计算机接口:USB2.0/3.011、运行环境:运行于Windows XP/7/8/10操作系统CSI原子力显微镜应用领域金属,纳米材料,高分子聚合物,薄膜&涂层,DNA,蛋白质,半导体,光电材料,太阳能电池,蓄电池,电化学领域,磁性材料,压电领域,分子电子或组织,导电材料表面表征…CSI原子力显微镜应用实例C36分子 扫描范围250nm DNA 扫描范围1μm高分子聚合物(PDES) 扫描范围12μm石墨烯扫描范围10μm磁性三角形结构扫描范围4.5μm上海曼戈斐光学推出样品免费检测体验并附有详细检测报告,热忱欢迎您的垂询!

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世界读书日当天

  • 品牌:
  • 型号: XE15
  • 产地:韩国
  • 世界顶级精度及强大功能Park原子力显微镜产品特性Park XE15具备多个特殊功能,是共享实验室处理各类样品、研究员进行多变量实验、失效分析师研究晶片等的不二选择。合理的价格搭配强健的性能设置,使其成为业内性价比最高的大型样品原子力显微镜。MultiSample(多重采样TM)扫描器带来最便捷样品测量-多样品一次性自动成像-特殊设计的多样品夹头,最多可承载16个独立样品-全自动XY样品载台,行程范围达200 mm x 200 mm。无轴间耦合提高扫描精度-两种独立闭环XY和Z平板式扫描-平板式和线性XY扫描可达100μm x 100μm,且残余压弯小-整个扫描范围内的异面移动小于2nm-强力扫描器达25μm Z扫描范围-精确的高度测量Non-Contact(真正非接触TM)模式延长针尖使用寿命、改善样品保存及精度 -其Z扫描频宽是压电管基础系统的10倍-非接触式可降低针尖磨损、延长使用寿命-成像分辨率高于同类原子力显微镜- 降低样品干扰,提高扫描精度提供最佳用户体验-开放式侧面接入,提高样品及针尖更换效率-预对准的针尖安装和独一无二的轴上俯视法可简单直观地实现激光对准-燕尾锁封片方便镜头拆卸-界面带自动设置功能,方便用户使用多种模式与选项-综合性测量模式及特性设置,是我司最佳通用型原子力显微镜-多种可选配件及更新,扩展性能优越-? 为缺陷分析提供先进电气测量* 产品特点100um x 100 um扫描范围的XY柔‘性导向扫描器XY扫描器含系统二维弯曲及强力压电堆叠,可使极小平面外移动形成较大的正交运动,并能快速响应,实现精确的样品纳米级扫描。柔性导向强力Z扫描器在强力压电堆叠的驱动及弯曲结构的引导下,其硬度允许扫描器高速竖直运动,较传统原子力显微镜扫描器更加高速。最大Z型扫描范围搭配远程Z扫描器(选配)可延长12μm至25μm。滑动连接的超亮二极管头通过将原子力显微镜头沿楔形轨道滑动,可轻松将其插入或取出。低相干的超发光二极管头可实现高反射表面的精确成像和力-矩光谱的精确测量。超亮二极管头的波长帮助减轻干扰问题,因此用户在可见光谱实验中也可使用本产品。多样品夹头特殊设计的多样品夹头,做多可承载16个独立样品,由多重采样扫描器自动按顺序扫描。特殊的夹头设计为接触样品针尖预留了边通道。选配编码器的XY自动样品载台自动集成XY载台可轻松并精确控制样品的测量位置。XY样品载台的行程范围可配置为150 mm x 150 mm或200 mm x 200 mm。若搭配自动载台使用编码器,可提高样品定位的精确度和重复性。编码XY载台工作时分辨率为1 μm,重复率为2 μm。编码Z载台的分辨率为0.1 μm,重复率为1 μm。高分辨率数码变焦感光元件摄像头高分辨率数码感光元件摄像头利用直接同轴光学,具备变焦功能,无论是否摇摄均可确保图像具有清晰的成像质量。垂直对齐的自动Z载台及聚焦载台Z载台和聚焦载台可将悬臂啮合到样品表面上,同时确保用户视野清晰稳定。聚焦载台是由软件控制自动运行的,因此满足透明样品及液态元件应用所需精度。弯曲基底解耦XY和Z扫描器Z扫描器与XY扫描器完全解耦。XY扫描器在水平面上移动样品,同时Z扫描器竖直移动探针。此配置以最小异面移动,实现了平板式XY扫描。此XY扫描同时还具有高正交性与线性。业内最低本底噪声为探测最小样品的特性,帮助最快运动平面成像,Park Systems设计了业内0.5?以下的最低本底噪声标准设备。使用“零扫描”探测本地噪声数据。真正非接触模式延长针尖使用寿命XE系列原子力显微镜已成功搭配专利强力Z扫描系统独有的真正非接触模式。真正非接触模式下,使用的是相吸而非相排斥的内部原子力。真正非接触模式因此成功地保持了针尖样品纳米级间距,改善了原子力显微镜图像,保持针尖的锐利,因此有效延长了针尖使用寿命。预对准悬臂支撑预先安装在探针支撑上,因此不需要严格对齐激光束。高分辨率的直接同轴光学元件用户可直接俯视观看样品,操控样品表面,从而很容易就能找到目标区域。高分辨率数码摄像头具备变焦功能,无论是否摇摄均可确保图像具有清晰的成像质量。带DSP控制芯片的XE控制电子元件原子力显微镜发出的纳米级信号将由高性能Park XE电子元件控制并处理。Park XE电子元件为低噪声设计,配备高速处理单元,可成功实现真正非接触模式,是纳米级成像及电压电流精准测量的理想选择。- 600 MHz、4800 MIPS速度的高性能处理单元- 低噪声设计,适合电压电流精准测量-通用系统,各SPM技术均可得到应用- 外部信号接入模块,存取原子力显微镜输入/输出信号- 最多16个数据成像- 最大数据尺寸:4096 x 4096像素- 16位ADC/DAC,速度达500 kHz- TCP/IP连接,隔离计算机接出电噪

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天舟一号的突破更厉害

  • 品牌:
  • 型号: NX-PTR
  • 产地:韩国
  • 全自动原子力显微镜实现准确的硬盘磁头滑块测量,让伟大变得简单Park Systems的PTR系列是全自动工业级线上原子力显微镜解决方案,适用于(不限于)长形条、磁头万向节组件(HGA)级滑块以及单独滑块的极尖沉降自动测量。凭借着亚纳米级精确度、高重复精度以及高通量,PTR系列是滑块厂商提高整体产量的理想测量工具。自动化、快速、精确且可重复的极尖沉降测量硬盘驱动滑块制造业要求工具不仅可以快速且流畅地测量极尖沉降,同时保证最高标准的精确度。这便是Park NX-PTR大展身手的领域。在超精确的极尖沉降测量之外,自动化功能可极大程度提高效率。这让NX-PTR成为硬盘驱动器滑块厂商的最佳选择,兼顾最佳的质量和最高的产量。高通量,无需多次参考扫描大多数原子力显微镜需要多次扫描才可以准确测量极尖沉降,首先是大区域参考扫描,随后小区域高分辨率扫描。多次扫描占用大量时间,且限制了通量的提高。我们的扫描系统带来真正的平面扫描,有效地降低扫描次数。此外,True Non-Contact模式让探针保持锋利,在延长使用寿命的同时,提供更持久的高分辨率成像效果。相应地,Park NX-PTR能够生成感兴趣区域的详细准确图像,而无需进行参考扫描,以便修正扫描器伪影。* 应用自动硬盘滑块测量随着硬盘滑块的尺寸越来越小,复杂性越来越高,提高产量的关键在于实现纳米级的精确度。 Park NX-PTR恰恰具备这样的精确且自动的硬盘滑块测量。自动极尖沉降测量与分析借助NX-PTR系统,极尖沉降测量可实现全自动,带来更高的通量,无论是对于载体、长形条,还是滑块。Park Systems的工业级院里子显微镜精确且稳定的全自动化极尖沉降(PTR)测量成为可能。极尖沉降量的监测要求测量精度达到0.1 mm,这意味着离测量表面只有20 μm远。自动墙角测量与分析实现各类墙角的自动测量与分析。自动缺陷测量与分析实现各类缺陷的全自动测量与分析,如表面尖角。* Park NX-PTR的特点低噪声XYZ轴位置传感器,带来更精确的扫描效果NX-PTR摈弃了常见的非线性Z轴电压信号,而是采用超低噪声Z轴探测器,从而带来无与伦比的形貌高度精度。凭借着行业领先的低噪声Z轴探测器,正向扫描和反向扫描间隙得以降到扫描范围的0.15%以内,甚至可以忽略不计,而这时Z轴形貌信号所无法企及的。热漂移和滞后极小,大大降低探针漂移NX-PTR具备极为突出的热稳定性和机械稳定性,从而大大降低热漂移,实现更为精确的测量。一般情况下,横向热漂移率低于100 nm/°C,而垂直热漂移率则低于200 nm/°C。测量控制自动化,释放您的双手NX-PTR配有自动化软件,操作起来轻而易举。您只需要选择想要的测量程序,并设定相应的悬臂调谐、扫描速率、增益和点参数,便可取得多位置分析。此外,Park的用户友好型界面让您能够随意创建自定义作业程序,以便您完全发挥NX-PTR的实力,满足所有的测量需求。创建新的作业程序极为简单。创建新测量文件只需要10分钟左右的时间,而修改现有的测量文件则不超过5分钟的时间。Park NX-PTR的自动化系统具备:自动、半自动和手动模式,让您掌控全局 各自动程序的可编辑测量方法 测量过程实时监测 自动分析所获取的测量数据 * 选项自动探针更换(选配)Park推出的自动探针更换系统让您的自动测量程序可以无缝续航。该系统会根据参考图形测量数据,自动校正悬臂的位置和优化测量设定。创新的磁性探针更换成功率高达99%,让您无需分心监督探针更换!自动激光准直(选配)Park的自动激光准直系统让您无需输入任何数据,便可持续自动测量。凭借着我们先进的预准直悬臂架,激光在自动更换探针时便已对准悬臂。只需要调整定位旋钮,便可在X和Y轴上任意定位激光光点,达到最佳位置。离子化系统可创造更稳定的扫描环境创新的离子化系统能够快速有效地消除样品的静电电荷。由于系统能够让阴阳离子保持完美的平衡状态,样品得以处在极其稳定的电荷环境中。同时,对周边区域的污染几乎可以忽略不计,并将样品操作时意外产生静电电荷的几率降到最低。

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纪夫人赶紧走上前问

  • 品牌:
  • 型号: NX-Wafer
  • 产地:韩国
  • 自动化工业级原子力显微镜,带来线上晶片检查和测量Park Systems推出业内噪声最低的全自动化工业级原子力显微镜XE-Wafer。该自动化原子力显微镜系统旨在为全天候生产线上的亚米级晶体(尺寸200 mm和300 mm)提供线上高分辨率表面粗糙度、沟槽宽度、深度和角度测量。借助True Non-Contact模式,即便是在结构柔软的样品,例如光刻胶沟槽表面,XE-Wafer可以实现无损测量。现有问题目前,硬盘和半导体业的工艺工程师使用成本高昂的聚焦离子束(FIB)/扫瞄式电子显微镜(SEM)获取纳米级的表面粗糙度、侧壁角度和高度。不幸的是,FIB/SEM会破坏样品,且速度慢,成本高昂。解决方案NX-Wafer原子力显微镜实现全自动化的在线200 mm & 300 mm晶体表面粗糙度、深度和角度测量,且速度快、精度高、成本低。益处NX-Wafer让无损线上成像成为可能,并实现多位置的直接可重复高分辨率测量。更高的精确度和线宽粗糙度监控能力让工艺工程师得以制造性能更高的仪器,且成本显著低于FIB/SEM。* 应用串扰消除实现无伪影测量 独特的解耦XY轴扫描系统提供平滑的扫描平台 平滑的线性XY轴扫描将伪影从背景曲率中消除 精确的特征特亮和行业领先的仪表统计功能 卓越的工具匹配CD(临界尺寸)测量出众的精确且精密纳米测量在提高效率的同时,也为重复性与再现性研究带来最高的分辨率和最低的仪表西格玛值。* 精密的纳米测量媒介和基体亚纳米粗糙度测量凭借行业最低的噪声和创新的True Non-ContactTM模式,XE-Wafer在最平滑的媒介和基体样品上实现最精确的粗糙度测量。精确的角度测量Z轴扫描正交性的高精度校正让角度测量时精确度小于0.1度。沟槽测量独有的True Non-Contact模式能够线上无损测量小至45 nm的腐蚀细节。精确的硅通孔化学机械研磨轮廓测量借助低系统噪声和平滑轮廓扫描功能,Park Systems实现了前所未有的硅通孔化学机械研磨(TSV CMP)轮廓测量。* Park NX-Wafer特点全自动图形识别借助强大的高分辨率数字CCD镜头和图形识别软件,Park NX-Wafer让全自动图形识别和对准成为可能。自动测量控制自动化软件让NX-Wafer的操作不费吹灰之力。测量程序针对悬臂调谐、扫描速率、增益和点参数进行优化,为您提供多位置分析。真正非接触模式和更长的探针使用寿命得益于专利的高强度Z轴扫描系统,XE系列原子力显微镜让真正非接触模式成为可能。真正非接触模式借助了原子间的相互吸引力,而非相互排斥力。因此,在真正非接触模式下,探针与样品间的距离可以保持在几纳米,从而盖上原子力显微镜的图像质量,保证探针尖端的锋利度,延长使用寿命。解耦的柔性XY轴与Z轴扫描器Z轴扫描器与XY轴扫描器完全解耦。XY轴扫描器在水平面移动样品,而Z轴扫描器则在垂直方向移动探针。该设置可实现平滑的XY轴测量,让平面外移动降到最低。此外,XY轴扫描的正交性和线性也极为出色。行业最低的本底噪声为了检测最小的样品特征和成像最平的表面,Park推出行业本底噪声最低(< 0.5?)的显微镜。本底噪声是在“零扫描”情况下确定的。当悬臂与样品表面接触时,在如下情况下测量系统噪声: 0 nm x 0 nm扫描范围,停在一个点 0.5增益,接触模式256 x 256像素* 选项高通量自动化自动探针更换(ATX)借助自动探针更换功能,自动测量程序能够无缝衔接。该系统会根据参考图形测量数据,自动校正悬臂的位置和优化测量设定。创新的磁性探针更换功能,成功率高达99%,高于传统的真空技术。设备前端模块(EFEM)实现自动晶体处理您可以为NX-Wafer加装自动晶片装卸器(EFEM或FOUP或其他)。高精度无损晶片装卸机械臂能够百分百保证XE-Wafer用户享受到快速且稳定的自动化晶片测量服务。长距离移动平台,助力化学机械研磨轮廓扫描该平台带有专有的用户界面,可支持自动化学机械研磨轮廓扫描和分析。平面外运动(OPM)在样品为5 mm时小于2 nm;10 mm时小于5 nm;50 mm时小于100 nm离子化系统离子化系统可有效地消除静电电荷。由于系统随时可生产和位置正离子和负离子之间的理想平衡,便可以稳定地离子化带电物体,且不会污染周边区域。它也可以消除样品处理过程中意外生成的静电电荷。

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还会反而伤肾

  • 品牌: 法国CSI
  • 型号: HD-KFM
  • 产地:法国
  • 法国CSI原子力显微镜最具性价比的解决方案。法国CSI原子力显微镜广泛应用于纳米科学领域、材料、表面科学、聚合物、薄膜、半导体、生物材料、光电、导电表面表征…低噪音的激光器和电子系统、无干扰、纯偏转信号,更好的分辨率(图像和力曲线)。XY驱动分辨率:24位控制,0.06Am;Z驱动分辨率:24位控制,0.006Am;微弱的相干激光器:658nm波长,功率小于1mw。升缩台的结构(专利技术)有专利的伸缩放大台阶且低噪音的,三轴独立,原子台阶及分子分辨率,直到100μm扫描,扫描分辨率X-Y:0.06nm,Z:0.006nm,不像压电陶瓷管那样易碎而且伸缩有弓效果。智能化AFMa. 低噪声低功耗相干激光器b. 低噪音控制器(低电压驱动压电扫描器)c. 24位DAC控制(精密控制d. 最大100μm扫描(Z方向9μM)e. 高分辨率的大范围扫描器低噪音激光器和控制器+24位控制+伸缩台阶(专利技术)=完整的低噪音回路=一体式扫描器。大范围扫描,高分辨率,且无需更换扫描器。自动设置和自动开关1.自动调谐集成锁相(AC和单通KFM模式)2. 自动设置电子系统(无需使用者连接电缆或模块)3. 顶部和侧面视图(探针-样品趋近简单- >不会撞针)4. 直观的软件和预先配置的AFM模式配置齐全AFM易于使用(顶部和侧面的视图,直观的软件,触摸屏控制)高达100μm范围扫描(Z方向9μM)高分辨率集成锁相(高灵敏度)24位控制多模式接触/摩擦&振荡模式/相位Conductive AFM(导电AFM)PFM (压电响应)MFM/EFM(磁力/静电力)力调制适用于不同环境的真实设计EZ温度:温度控制,可达200°对于压电器件可以进行更稳定的加热分离(不漂移)与大气控制、液体模式和所有电模式(KFM,CAFM, ResiScope…)相兼容大气控制(气体和湿度)光电探测器和激光器在箱体外部(湿度控制不会造成电子件损害)光电探测器和激光器可以正常对齐(不在一个盒子里解决- >没有盒子)容易和快速设置与电气测量模式是最佳的兼容(KFM, ResiScope…)EZ液体:液体测量压电保护激光容易对准(可以利用顶部视频在空气中对准激光)非常稳定的“振荡模式”的决方案易于使用且更成功的原子力显微镜测量!热测量局部加热(探针)或热测量最佳的电气模块HD-KFM :在市场上有最好的分辨率和灵敏度(更好的算法,根据不同样品有两种模式,更好的锁相灵敏度…)易用使用(自动调用智能算法,无需经验)ResiScope :10个数量级-从100Ω~1TΩ之间(竞争者最多只覆盖了7个数量级)较低的电流流经探针/样品(不会局部氧化,不会因为高电流损害探针/样品)同时兼容AC模式成像和EFM/MFM模式或者HD-KFM模式,且不会任何变动或丢失样品的位置!Soft-ResiScope :跟ResiScope一样,仍然有10个数量级,允许软性样品成像成像和电阻/电流测量。CSI原子力显微镜应用领域物理实验室:材料,高分子聚合物,电气特性,磁场,压电领域…化学实验室:分子电子或组织。太阳能电池,电池,聚合物,电化学半导体:研究和研发多用途用户如:化学实验室+生物实验室热忱欢迎您的垂询,上海曼戈斐光学提供样品免费测试,欢迎莅临!

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教你嗨翻海陆空

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: BioScope Resolve
  • 产地:美国
  • 布鲁克公司的BioScope Resolve生物原子力显微镜与倒置光学显微镜联用,实现了最高分辨的原子力显微镜成像和最完整的细胞力学性质测量。 BioScope Resolve采用了布鲁克公司独有的PeakForce Tapping技术,使研究者能够获得最高分辨率的生物成像和在每一像素点上皮牛级(pN)的力学测量和力谱分析。该系统对光学图像和原子力显微镜数据的实时整合,使以往不可能获得的数据成为了可能。包括物理结构,生化相互作用和力学特性在内的多重信息,为生命科学的深入研究提供了独特的技术平台。布鲁克公司的PeakForce Tapping技术可以为生物学家带来以下独特的功能集成:针对最软的生物样品实现最高的分辨率成像,最定量的力学性质成像和最简便的操作。PeakForce QNM 能够提供以下功能:针对整个活细胞实现最快速最高分辨率的力学成像力学、化学和生物学相互作用的定量成像亚分子级AFM成像的同时,快速实现力学、化学和生物学交互作用的定量成像细胞智能成像模式能够提供以下功能:所有实验水平的操作人员都能够获得可重现的高质量专家级AFM结果相比其他的AFM模式能获得更高分辨率的分子级成像和活细胞成像BioScope Resolve充分利用了PeakForce Tapping的技术优势,为生物研究提供更完整的解决方案。这是首次将光学和对样品性质与形貌进行亚分子级别成像的完美结合。简而言之,BioScope Resolve才是生物型AFM的标杆。布鲁克公司独有的PeakForce QNM和FASTForce Volume技术,能够结合在一起为生物样品提供最宽泛灵活的测量频率和最精确定量的性质成像。此外,更高的成像速度和自动测量能力,也能在更少的时间内提供更大量的数据,从而极大加速研究论文的发表。BioScope Resolve能够为分子和活细胞提供最高分辨率的成像,能够展现之前从未显示的结构细节。该功能的实现,主要是通过稳定的仪器设计、PeakForce Tapping技术和布鲁克独有的高分辨率ScanAsyst-液体探针技术的结合。无论是DNA双螺旋还是其他生物分子成像,使用ScanAsyst-Cell的BioScope Resolve能够使科研工作者更简便而重复地获得亚分子级的分辨率。BioScope Resolve与其他的AFM不同,它与光学显微镜能结合能定量的对生物精细结构成像。该系统有独特的设计,能够提供开放样品取放空间,且与光学显微镜完全融为一体。研究人员能够完美地将实时光学成像和AFM成像结合起来。Bioscope Resolve是由生物学家研发而为生物学家设计的仪器,通过使用可选附件和专用探针,足够满足广泛的应用需求。技术参数:倒置光学显微镜透射光凝汽器共聚焦激光扫描照相机:支持所有相机的TIFF JPEG或BMP格式的图片文件输出AFM控制器:NanoScope VAFM技术参数X-Y方向扫描范围 ≥100 μm, 开环或闭环操作Z 方向扫描范围 ≥15 μm, 开环或闭环操作偏转检测 λ=850 nm红外超发光二极管基线飘移 <0.25 nm/μm噪音高度 35 pm (typical with appropriate vibration and acoustic isolation)XY样品台 载物台10mm x 10 mm

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高校的自主选拔

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: Multimode 8
  • 产地:德国
  • MultiMode是世界上最受欢迎的原子力显微镜,得到 客户的高度认可,迄今为止数以万计的MultiMode扫描探针 显微镜已经在全球成功安装使用。其世界领先的超高分辨率, 完备的仪器性能,无与伦比的多功能性,以及得到充分验证 的完美表现和实验可靠性,奠定了其在AFM领域的领导地位。 Bruker作为生命科学和分析仪器领域出色的领导者,始终致力 于为用户提供最好的解决方案,总结成功的经验,不断创新,MultiMode是世界上最受欢迎的原子力显微镜,得到 客户的高度认可,迄今为止数以万计的MultiMode扫描探针 显微镜已经在全球成功安装使用。其世界领先的超高分辨率, 完备的仪器性能,无与伦比的多功能性,以及得到充分验证 的完美表现和实验可靠性,奠定了其在AFM领域的领导地位。 Bruker作为生命科学和分析仪器领域出色的领导者,始终致力 于为用户提供最好的解决方案,总结成功的经验,不断创新,简便易行,轻松获得专业结果MultiMode是世界上最受欢迎的原子力显微镜,得到客户的高度认可,迄今为止数以万计的MultiMode扫描探针 显微镜已经在全球成功安装使用。其世界领先的超高分辨率, 完备的仪器性能,无与伦比的多功能性,以及得到充分验证 的完美表现和实验可靠性,奠定了其在AFM领域的领导地位。 Bruker作为生命科学和分析仪器领域出色的领导者,始终致力 于为用户提供最好的解决方案,总结成功的经验,不断创新, 推出了MultiMode系列的最新型号MultiMode8。使用Bruker 最新的专利技术Peak Force Tapping扫描模式,获得更多的样 品信息,操作更简单,性能更优越,大大提高了工作效率。MultiMode是世界上最受欢迎的原子力显微镜,得到客户的高度认可,迄今为止数以万计的MultiMode扫描探针 显微镜已经在全球成功安装使用。其世界领先的超高分辨率, 完备的仪器性能,无与伦比的多功能性,以及得到充分验证 的完美表现和实验可靠性,奠定了其在AFM领域的领导地位。 Bruker作为生命科学和分析仪器领域出色的领导者,始终致力 于为用户提供最好的解决方案,总结成功的经验,不断创新, 推出了MultiMode系列的最新型号MultiMode8。使用Bruker 最新的专利技术Peak Force Tapping扫描模式,获得更多的样 品信息,操作更简单,性能更优越,大大提高了工作效率。MultiMode是世界上最受欢迎的原子力显微镜,得到 客户的高度认可,迄今为止数以万计的MultiMode扫描探针 显微镜已经在全球成功安装使用。其世界领先的超高分辨率, 完备的仪器性能,无与伦比的多功能性,以及得到充分验证 的完美表现和实验可靠性,奠定了其在AFM领域的领导地位。 Bruker作为生命科学和分析仪器领域出色的领导者,始终致力 于为用户提供最好的解决方案,总结成功的经验,不断创新, 推出了MultiMode系列的最新型号MultiMode8。使用Bruker 最新的专利技术Peak Force Tapping扫描模式,获得更多的样 品信息,操作更简单,性能更优越,大大提高了工作效率。MultiMode 8 具有更多卓越功能,搭配全新研发的AFM配件,带给AFM用户 更多惊喜,体验最先进的原子力显微镜功能。MultiMode 8功能更完备,操作更简 便,而且大大提高了扫描速度,是世界上分辨率最高、功能最优异的原子力显微镜。MultiMode 8 具有更多卓越功能,搭配全新研发的AFM配件,带给AFM用户 更多惊喜,体验最先进的原子力显微镜功能。MultiMode 8功能更完备,操作更简 便,而且大大提高了扫描速度,是世界上分辨率最高、功能最优异的原子力显微镜。MultiMode 8 具有更多卓越功能,搭配全新研发的AFM配件,带给AFM用户 更多惊喜,体验最先进的原子力显微镜功能。MultiMode 8功能更完备,操作更简 便,而且大大提高了扫描速度,是世界上分辨率最高、功能最优异的原子力显微镜。?MultiMode 8 具有更多卓越功能,搭配全新研发的AFM配件,带给AFM用户 更多惊喜,体验最先进的原子力显微镜功能。MultiMode 8功能更完备,操作更简 便,而且大大提高了扫描速度,是世界上分辨率最高、功能最优异的原子力显微镜。MultiMode是世界上最受欢迎的原子力显微镜,得到 客户的高度认可,迄今为止数以万计的MultiMode扫描探针 显微镜已经在全球成功安装使用。其世界领先的超高分辨率, 完备的仪器性能,无与伦比的多功能性,以及得到充分验证 的完美表现和实验可靠性,奠定了其在AFM领域的领导地位。 Bruker作为生命科学和分析仪器领域出色的领导者,始终致力 于为用户提供最好的解决方案,总结成功的经验,不断创新, 推出了MultiMode系列的最新型号MultiMode8。使用Bruker 最新的专利技术Peak Force Tapping扫描模式,获得更多的样 品信息,操作更简单,性能更优越,大大提高了工作效率。?MultiMode是世界上最受欢迎的原子力显微镜,得到客户的高度认可,迄今为止数以万计的MultiMode扫描探针 显微镜已经在全球成功安装使用。其世界领先的超高分辨率, 完备的仪器性能,无与伦比的多功能性,以及得到充分验证 的完美表现和实验可靠性,奠定了其在AFM领域的领导地位。 Bruker作为生命科学和分析仪器领域出色的领导者,始终致力 于为用户提供最好的解决方案,总结成功的经验,不断创新,推出了MultiMode系列的最新型号MultiMode8。使用Bruker 最新的专利技术Peak Force Tapping扫描模式,获得更多的样 品信息,操作更简单,性能更优越,大大提高了工作效率。技术参数:1. 显微镜:多种可选Multimode SPM扫描头AS-0.5系列:横向(X-Y)范围0.4μm×0.4μm,竖直(Z)范围0.4μmAS-12系列:横向(X-Y)范围10μm×10μm,竖直(Z)范围2.5μmAS-130系列:横向(X-Y)范围125μm×125μm,竖直(Z)范围5.0μmPF50:横向(X-Y)范围40μm×40μm,竖直(Z)范围20μm2. 噪声:垂直(Z)方向上的RMS值<0.3埃 (带防震系统的测量值)3. 样品大小:直径≤15mm, 厚度≤5mm4. 针尖/悬臂支架: 空气中轻敲模式/接触模式(标准) 液体中轻敲模式/力调制(可选) 空气中力调制(可选);电场模式(可选) 扫描热(可选-需要大的光学头或者外加的应用组件) STM转换器(可选)低电流STM转换器(可选);接触模式液体池(可选) 电化学AFM或STM液体池(可选)扭转共振模式(可选)5. 防震和隔音: 硅胶共振模式(可选) 防震三脚架(可选) ;防震台(可选) 集成的防震台和隔音罩(可选) ?

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与第一代三厢版车型同堂销售

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JXA-8530F
  • 产地:日本
  • 以场发射 (FE) 电子枪为特色的JEOL电子探针显微分析仪( EPMA),带来了表面分析世界的革命。JXA-8530F在继承了JXA-8500F的强力硬件(包括 FE 电子枪、电子光学系统和真空系统)的同时,采用电脑操作进行数据的采集和分析,实现了微区分析。友好的PC控制操作环境,使得在极高的放大倍数下能够便利地进行快速、便捷的分析。 - PC平台操作 - 用FE电子枪进行高空间分辨率成像 - “Click Point Analysis”功能和用户菜单(User,s recipe) - 先进的操作 - WD/ED组合系统

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邓银华不好意思地笑道

  • 品牌:
  • 型号: Solver Nano
  • 产地:俄罗斯
  • 仪器由主机和控制系统、专用工具、操作软件及附件组成。主要用于化学、材料科学(纳米材料、高分子、聚合物、半导体等)、生命科学以及相关领域的研究工作,对各种材料、化工产品、生物制品、非金属矿及深加工产品等进行观测,并对其表面形貌进行分析。扫描隧道显微镜功能:恒流模式、恒高模式、I(Z)谱、I(V)谱原子力显微镜功能:形貌成像、相位成像、磁力显微镜、静电力显微镜、扩展电阻成像、开尔文探针显微镜、力-距离曲线、振幅-距离曲线、I(V)谱刻蚀功能:力刻蚀、电流刻蚀、矢量刻蚀

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旭德教育正式入驻新址

  • 品牌: 德国JPK
  • 型号: NanoWizard3 NanoOptics AFM System
  • 产地:德国
  • 德国JPK公司生产的NanoWizard3纳米光学原子力显微镜系统专注于纳米尺度物质光学特性的研究。该系统提供了AFM与拉曼光谱,针尖增强拉曼光谱,孔-近场光学显微镜或散射式近场光学显微镜,共聚焦显微镜,纳米操控等结合领域的综合解决方案。(More information: www.jpk.com) 该解决方案是AFM与光学联用目前最完美的解决方案。 原子力显微镜兼容目前四大厂牌的倒置显微镜(Zeiss,Nikon,Olympus,Leica) 能够和倒置显微镜、拉曼光谱系统、光子计数系统完美结合 超高的稳定性和最小的漂移设计能够进行长时间实验 最高到6轴的闭环扫描的设计(结合TAO模块) 基于盖玻片的样品池,可做气相、惰性气体、液相或电学相关连接 门控单光子计数功能 980nm的激光光源防止光学信号干扰 各种工作模式或附件,比如音叉、STM、导电AFM,光纤SNOM等 独特的光纤耦合探测单元用于外部的探测器(如PMT、APD等) NanoWizard纳米光学扫描头集成一光纤SNOM接口,且系统可进行散射式SNOM实验 光学视野内的纳米操控 可结合拉曼光谱仪进行拉曼光谱或针尖增强拉曼光谱学的研究,原子力系统能够连接HORIBA JOBIN YVON、Princeton Instruments、RENISHAW等厂牌的拉曼光谱仪 能够结合先进的荧光技术和时域相关的单光子计数系统,比如Picoquant MicroTime200 FLIM系统 部分客户发表的papers:http://www.jpk.com/index.422.en.html

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原型车采用15英寸的触摸显示屏

  • 品牌:
  • 型号: NX20
  • 产地:韩国
  • 领先纳米测量工具助推缺陷分析和大型样品研究作为一位缺陷分析工程师,你的任务是提供结果。而你的仪器所提供的数据不能允许任何错误的存在。Park NX20,这架全球最精密的大型样品原子力显微镜,凭借着出色的数据准确性,在半导体和硬盘行业中大受赞扬。更为强大的缺陷分析解决方案Park NX20具备独一无二的功能,可轻易找出仪器缺陷的原因并帮助制定更多创意的解决方案。无与伦比的精密度为你带来高分辨率数据,让你能够更加专注于工作。与此同时,True Non-Contact(真正非接触)扫描模式让探针尖端更锋利、更耐久,无需为频繁更换而耗费大量的时间和金钱。操作简单,入门级工程师的福音Park NX20拥有业界最为友好的设计和自动界面,让你在使用时无需花费大量的时间和精力,也无需为此时时监督初级工程师。借助这一系列特点,您可以更为专注于解决更为重大的问题并为客户提供及时且富有洞察力的失效分析。*技术信息三维结构研究的侧壁测量NX20的创新构造让您可以检测样品的侧壁和表面,并测量角度。众多的功能和用途正是您的创新性研究和深刻洞察力所需的。表面粗糙度测量- 媒介和基体表面粗糙度测量是Park NX20的关键应用之一,能够带来精确的缺陷分析和质量保证。高分辨率电性扫描模式最快的扫描式电容显微镜无横向摩擦导电原子力显微镜True Sample Topography(真正样品扫描),让压电蠕变无影踪我们的原子力显微镜配有最有效的低噪声Z轴探测器,宽噪音带宽仅有0.02 nm。这能够带来超精确样品形貌,不受沿过冲影响,且无需校准。这仅仅是Park原子力显微镜为您节省时间和带来更好数据的方式之一。*技术特点二维柔性导引扫描器,超大的100 μm x 100 μm扫描范围 XY轴扫描器含有对称的二维柔性和高强度压电叠堆,可在保持平面外运动最少的情况下,实现高正交运动以及纳米级样品扫描下的高响应度。低噪声位置传感器 行业领先的低噪声Z轴探测器替代Z电压,作为样貌信号。此外,低噪声XY闭环扫描可将正向扫描和反向扫描间隙降至扫描范围的0.15%以下。步进扫描自动化 借助电动样品台,步进扫描模式能够允许用户自行编程多区域成像。在重复成像过程中,该自动化功能可减少用户的工作,从而提高生产力。滑动连接超辐射发光二极管(SLD)镜头自动装卸 燕尾式轨道设计,轻松更换原子力显微镜镜头。该设计可将镜头自动锁定至预对准的位置,并将其连接至控制电子元件,而重复定位精度只有几微米。借助超辐射发光二极管(SLD)的低相干性,显微镜可精确成像高度反光表面和精密测量pico-Newton力对距光谱。此外,超辐射发光二极管的波长也解决了干扰问题,让用户可随意在可见光谱实验中使用原子力显微镜。高级扫描探针显微镜模式和选项扩展槽 只需要将可选模块插入扩展槽,您便可激活高级高级扫描探针显微镜模式。得益于NX系列原子力显微镜的模块化设计,其产品线产品的兼容性大大提高。高速24位数字电子控制器 所有NX系列的原子力显微镜都是由相同的NX电子控制器进行控制和处理。该控制器为一个全数字、24位高速电子单元,能够确保Park True Non-ContactTM模式下的成像精度和速度。凭借着低噪声设计和高速处理单元,该控制器是纳米级成像和精确电压电流测量的绝佳选择。嵌入式数字信号处理为原子力显微镜带来更为丰富的功能,进一步提升性价比,是高级研究员的最佳选择。XY和Z轴探测器的24位信号解决方案XY轴(50 μm)的分辨率为0.003 nmZ轴(15 μm)的分辨率为0.001 nm嵌入式数字信号处理功能三通道灵活数字锁相弹簧常数校正(热测法) 数字Q控制集成式信号端口专用可编程信号输入/输出端口7个输入端口和3个输出端口高速Z轴扫描器,扫描范围达15 μm 借助高强度压电叠堆和柔性结构,标准Z轴扫描器的共振频率高达9 kHz以上(一般为10.5 kHz)且探针的Z轴移动速率不低于48 mm/秒,让信息反馈更为准确。最大Z轴扫描范围可从标准的15 μm扩展至40μm(可选购的远距离Z轴扫描器)。电动XY轴样品台,可选配编码器 在电动样品台上加装编码器,可保证更高的重复定位精度,让样品定位更为准确。在配备编码器后,XY轴样品台的行程精度低至1 μm且重复定位精度低至2 μm,而Z轴样品台的行程精度和重复定位精度分别为0.1 μm和1 μm。可更换式样品架 借助独特的镜头设计,用户可从侧面操作样品和探针。根据XY轴样品台所设定的行程范围,用户在样品台上可防止的最大样品体积为直径150 mm x 20 mm或直径200 mm x 20 mm。直视同轴高倍显微镜,集成LED照明 定制物镜配有超长工作距离(51 mm,0.21的数值孔径,1.0 μm的分辨率),带来前所未有的镜头清晰度。直视同轴设计让用户可轻易地在样品表面找寻目标区域。为了达到更高的分辨率,我们采用了EL20x长行程物镜,且工作距离为20 mm,数值孔径为0.42,分辨率为0.7 μm。得益于CCD的大体积传感器,样品视角更宽,但分辨率却不受影响。由软件控制的LED光源能为样品表面提供足够的照明,以便清晰观察样品。垂直配向的电动Z轴样品台和聚焦样品台 Z轴样品台和聚焦样品台与悬臂连接,得以操控样品表面,且同时能够保证用户有着清晰的视野。此外,得益于聚焦样品台为电动且可软件控制,因此精密度可适用于透明样品和液体单元应用。

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就是附近居民烧香拜佛的一个小地方

  • 品牌:
  • 型号: NTEGRA Spectra
  • 产地:俄罗斯
  • 仪器简介:NTEGRA Spectra 是一款独特的集成了扫描探针显微镜、激光共聚焦/荧光显微镜和拉曼光谱仪的系统。其强大的TERS效应,可在得到拉曼光谱的同时获得高达50nm的成像分辨率。只有NTEGRA Spectra能在软件、硬件等技术方面为集成Renishaw的拉曼光谱系统提供完美的方案,以便用户能在分子水平上用不同的技术手段来分析、研究样品。这样的集成,能让用户极大的提高工作效率,将更多的时间用于数据采集和分析,而无需为繁琐的仪器操作而苦恼。所以,可以负责任的说:真正的集成是远远优于简单的组合的。激光共聚焦显微镜/拉曼光谱仪系统 NTEGRA Spectra 系统集成了激光扫描共焦光谱仪、光学显微镜和常规的扫描探针显微镜。该系统能用于发光光谱和拉曼散射的三维成像、所有的SPM功能,包括纳米压痕、纳米加工和纳米刻蚀等。.扫描探针显微镜除了光学检测外,NTEGRA Spectra还可使用SPM的方法来研究样品,诸如:AFM、MFM、STM、SNOM、力谱等等。这样独特的集成了光学方法和扫描探针方法合二为一的系统,为用户完成复杂的实验变成可能,用户可从实验中得到样品的光学分布信息、化学性质、力学性质、电学性质和磁学性质等。 用超越激光衍射极限的系统来研究样品NTEGRASpectra 在检测样品时,能提供超越激光光学衍射的光学分辨率。近场光学显微镜和TERS系统能让用户得到光学性质分布图(激光传输、散射和偏振等)的同时获得拉曼散射光谱和高达50nm的XY方向分辨率。技术参数:共聚焦显微镜光学模块 正置或倒置光学显微镜观测系统 可见光谱测量(390-800nm) 激发光路中配置手动式格兰-泰勒起偏棱镜390-1000nm 检测光路中配置电动式格兰-泰勒检偏棱镜390-1000nm 三轴定位电动式1/2波片 光束分离器 可选配倏逝激发系统(用于TERS) 光学分辨率 XY:200nm Z:500nm扫描模块 最大样品质量:1000g 最大扫描范围:100x100x25 um XYZ三维全量程闭环控制扫描系统 XY方向非线性度:0.03 % (典型值) Z方向噪音水平:<0.2 nm (典型值)XY方向噪音水平:<0.5 nm(典型值)共聚焦针孔直径0~1.5mm可调,步进0.5 um注:无论样品是否透明,都可用我们的共聚焦显微镜在空气或液体环境中对其进行研究。拉曼光谱仪 光谱仪焦长520 mm 激光器波长*441, 488, 514, 532, 633 nm杂散光抑制10-5,(20nm 用632nm激光器 )平场面积28 mm x 10 mm 光谱分辨率0.025 nm (1200 l/mm光栅**)端口1输入,2输出 光栅座4孔转盘(3 个光栅+“直接成像”模式用的反射镜) 探测器CCD:光谱响应范围:2001000 nm,电冷装置冷却至80°C,500nm时95% 量子效率用于光子计数的APD***:光谱相应范围:4001000 nm,暗计数=25/秒,提供高达1GHz计算速度的PCI卡。 * 标准配置中包括一套488 nm激光器,其他波长激光器可选配 ** 可选配其他光栅。小阶梯光栅具有最高的光谱分辨率 ***可选用PMT扫描近场光学显微镜 功能模式:剪切力成像/SNOM反射模式,透射模式,荧光模式(选配) 激光模块耦合装置:X-Y-Z 定位器,定位精度1 um V型槽光纤固定器 装配40x物镜 光纤传输系统 KineFlexTM 光束衰减器:可配多种减光镜 剪切力成像 样品尺寸:最大直径100mm,最大厚度15mm XY二维样品移动平台:样品定位范围5x5mm,样品定位精度5umXYZ三维全量程闭环控制扫描系统样品扫描式 针尖扫描式 扫描范围 100x100x25 um 100x100x7 um 非线性度 XY 0.03 %(典型值)<0.15% 噪音水平 Z <0.2 nm(典型值)0.04nm(典型值),<=0.06nm 噪音水平 XY <0.5 nm(典型值)0.2 nm(典型值),<=0.3 nm 石英音叉基频 190 kHz 光纤孔径 <100nm 可同时采集的数据通道 反射模式透射模式/荧光模式 PMT 光谱响应范围:185-850 nm灵敏度:3x1010,420 nm时隔振系统 主动式:0.7-1000 Hz 被动式:大于1 kHz扫描探针显微镜 功能模式:AFM(接触+半接触+非接触)/侧向力模式/相位成像模式/力调制模式/粘滞力成像/磁力显微镜/静电力显微镜/扫描电容显微镜/扫描开尔文探针显微镜/扩展电阻成像模式/刻蚀:AFM(力和电流) 样品尺寸*最大直径100mm,最大厚度15mm 扫描范围50x50x5 um 闭环控制系统**XYZ三维全量程闭环控制扫描系统,采用电容传感器 非线性度 XY <0.15% 噪音水平Z 0.06 nm(典型值),<=0.07nm 噪音水平 XY 0.1 nm(典型值),<=0.2 nm (XY 50 um) *扫描头部可单独使用,此时对样品尺寸和重量无限制 **内置的电容传感器拥有极低的噪音水平,即使降到50x50 nm的区域也可以用闭环控制来扫描主要特点:AFM探针和激光光斑完美的同步协调。AFM探针可在纳米级的精度上定位于激光光斑中在TERS中,这是必要的条件。在激光扫描和样品扫描的6个轴中,全部采用全量程闭环控制系统。高数值孔径的光学物镜和SPM系统紧密的集成在一起,让系统的光学稳定性达到前所未有的高度为长程和微弱的信号而设计。反射模式的激光光路可用于激光共聚焦成像。电冷至-70°C的CCD,用于光谱探测和成像。也可选用APD来进行光子计数。在激发通道和检测通道中,用户可灵活方便的配置偏光光路。多功能的集成软件控制系统,所有的系统模块包括AFM、光路系统和机械系统都由统一的软件来控制。激光器、光栅、针孔等等,都可由软件来切换或调节。NT-MDT可根据用户需求定制不同使用需求的TERS系统。

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用镜头记录湖水那么蓝

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: Dimension Icom
  • 产地:美国
  • 仪器简介:最新一代 Dimension系列 AFMDimension Icon 原子力显微镜(AFM)的性能、功能及附件等方面具有全新表现,在聚合物、半导体、能源、数据存储及材料领域的纳米研究中将会得到广泛应用。Dimension Icon是Dimension系列产品中的最新款设备,它基于世界上应用最广泛的AFM平台,集合了数十年的技术创新、行业内领先的应用定制及客户反馈等于一身。这个系统经过从上到下的设计,在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表现。技术参数:X-Y方向扫描范围:90um *90um典型值,最小85umZ方向扫描范围:10um典型值,在成像及力曲线模式下;最小9.5um垂直方向噪音基底:<30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽(达到625Hz)X-Y定位噪音(闭环):≤0.15nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)X-Y定位噪音(闭环):≤0.10nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)Z传感器噪音水平(闭环):35pm RMS, 典型成像带宽(达到625Hz)整体线性误差(X-Y-Z):0.5% 典型值样品尺寸/夹具:210mm真空吸盘样品台,直径≤210mm, 厚度≤15mm电动定位样品台(X-Y轴):180mm*180mm可视区域;单向2um重复性;双向3um重复性。显微镜光学系统:五百万像素数字照相机 180um至1465um可视范围数字缩放及自动对焦功能控制器:NanoScope V型控制器工作台:整合所有控制器、结合人体工学设计,提供直接的物理或可视借口震动隔绝:整体式气动减震台声音隔绝:可隔绝环境中85 dBC的持续噪音主要特点:结合Veeco最新的行业领先的针尖-扫描AFM技术,Icon的温度补偿定位传感器使Z轴的的噪音水平达到亚-埃米级,X-Y方向达埃米级。在大样品台、90微米扫描范围系统的仪器当中,这种表现是非常突出的,优于绝大部分的开环、高分辨率AFM系统的噪音水平。Icon不仅具有非常好的分辨率,它还具备许多新的特性,以增加新老AFM用户操作仪器的便捷性及出图像速率:? 专利设计的扫描管,实现闭环扫描功能同时,具有开环扫描管的噪音水平,在大样品AFM系统中实现前所未有的分辨率? 全新设计的XYZ闭环扫描管,在不影响图像质量下具有非常高的扫描速度,具有非常快的数据采集能力? 最新的NanoScope软件版本,提供直观的操作流程及默认实验模块,将复杂的AFM操作流程转化为预先设置? 高分辨率的照相机及X-Y定位,实现更迅速、更有效的样品定位? 完全开放的针尖及样品环境,适用于绝大部分的标准或定制实验? 硬件及软件设置适用Veeco现有的及即将推出的所有模式及技术,包括现有的最先进的HarmoniX纳米材料性能成像模式布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频,观看最新的AFM产品和相关技术进展,以及历届网络研讨会和培训资料,精彩内容持续更新中!http://i.youku.com/u/UNDU0NDQ5MTEy布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室电话:010-68474806 -630 传真:010-88417855上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail:Sales.asia@bruker-nano.com 产品咨询热线:400-890-5666 www.bruker.cn\AFM

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怕有毒蛇或某种动物出没

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: Dimension Icon
  • 产地:德国
  • 布鲁克Dimension Icon原子力显微镜Bruker Dimension Icon 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的AFM应用体验,其测试功能强大,操作简便易行。仍然以世界上应用最广泛的AFM大样品平台为基础,齐集 Dimension系统数十年的技术经验,广大客户反馈,结合工业领域的设备需求,进行全面革新。全新的系统设计,实现了前所未有的低漂移和低噪音水平,现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。技术参数:X-Y方向扫描范围:90um *90um典型值,最小85umZ方向扫描范围:10um典型值,在成像及力曲线模式下;最小9.5um垂直方向噪音基底:<30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽(达到625Hz)X-Y定位噪音(闭环):≤0.15nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)X-Y定位噪音(闭环):≤0.10nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)Z传感器噪音水平(闭环):35pm RMS, 典型成像带宽(达到625Hz)整体线性误差(X-Y-Z):0.5% 典型值样品尺寸/夹具:210mm真空吸盘样品台,直径≤210mm, 厚度≤15mm电动定位样品台(X-Y轴):180mm*180mm可视区域;单向2um重复性;双向3um重复性。显微镜光学系统:五百万像素数字照相机 180um至1465um可视范围数字缩放及自动对焦功能控制器:NanoScope V型控制器工作台:整合所有控制器、结合人体工学设计,提供直接的物理或可视借口震动隔绝:整体式气动减震台声音隔绝:可隔绝环境中85 dBC的持续噪音产品特点:终极体验独特的传感器设计,在闭环条件下,也能实现大样品台、针尖扫描的AFM具有与开环噪音水平一样的低噪音水平,且具有极高的扫描分辨率高效率XYZ闭环扫描器的完美设计,使仪器在较高扫描速度工作时,也不降低图像质量,具有更大的数据采集效率全功能针尖和样品之间开放式的空间设计,不仅可以进行各种标准实验,也可以自行设计实验方案,满足不同研究工作的需求硬件和软件技术的不断创新,新开发的HarmoniX 模式,可以测量纳米尺度上材料性质

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是我一生最凄凉的时段

  • 品牌: 日立
  • 型号: 5300E
  • 产地:日本
  • 产品介绍:AFM 5300E是一款真正的环境可控型原子力显微镜,可通过简单的操作来选择高真空环境、空气环境、液体环境、湿度环境、特种气体环境以及变温环境等不同环境。在高真空环境下,不仅可以防止样品表面水膜的形成,提高样品扫描分辨率和表面物理性能测试测量的准确性;也可以通过Q值控制来提高AFM的扫描灵敏度,进而提升图像的分辨率。真空环境还可以避免某些样品的氧化,也为低温扫描提供了绝佳的环境,可以避免空气中水分子结晶带来的影响。主要特点:真正的环境可控,高真空、大气环境、特种气体、液体环境等具有Q值控制功能,大大提高分辨率高真空下物性测量更加准确更强的温度控制功能

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山重水复、蜿蜒连绵

  • 品牌:
  • 型号: XE-7
  • 产地:韩国
  • 仪器简介: 超高性价比的纳米领域研究利器。独特的三轴分离设计,既保证了XYZ三个方向无耦合效应,从原理上消除了平面扭曲误差;同时独立的Z轴扫描器,实现了真正的非接触式扫描,极大地扩展了样品适用范围。自上而下的直视光路,方便用户对探针和样品的观察,专门设计的探针安装方式,简化了光路调整过程,降低了操作难度。技术参数:扫描器XY扫描器柔性制导闭环控制单模块扫描器扫描范围10μm*10μm(可选50μm*50μm ,100μm*100μm)平面偏移度:<2nm(40μm*40μm扫描)Z扫描器柔性制导强力扫描器扫描范围12μm(可选25μm)共振频率:>5kHz表面成像噪声:0.03nm样品台样品尺寸: 100mm*100mm*20mm样品重量:最大500g样品台移动范围:13mm*13mm主要特点:一、精确的XY方向扫描,彻底消除了交叉耦合误差●使用独立的闭环XY平板式扫描器和Z轴扫描器●平板式的扫描扫描器,残留弯曲误差极小●整个扫描范围内的水平线性误差小于2nm●精确的高度测量二、Non-Contact(真正非接触) 模式能够延长针尖寿命,提供高分辨率及保护样品●Z伺服速度是压电陶瓷管的10倍●非接触模式可降低针尖磨损、延长使用寿命●成像分辨率优于同类原子显微镜●增强样品兼容性,提高扫描精度三、最丰富的功能拓展●支持多种SPM模式●支持多种选配测量模式●支持各种可选配件,扩展性能优越四、最为便利的使用设计●开放式样品空间,提高样品及针尖更换效率●预对准针尖安装和同轴直视光路直观地实现激光对准●燕尾锁方便扫描头拆卸

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刚到异界就碰见土匪屠村

  • 品牌: 德国JPK
  • 型号: CellHesion® 200
  • 产地:德国
  • 仪器简介:在CellHesion 200出现以前,统计上可信并且定性的细胞粘附力测量方法被证明很难实现。德国JPK公司创造了一个完美的系统-CellHesion 200可以测量细胞之间、细胞与基底之间的相互作用。这一系统也可以用来定量测量细胞弹性和对外加机械压力的细胞响应。 提供可重现的、精确到单个分子的单细胞定量测量结果,创新的CellHesion方法以无可比拟的数据质量开启了研究细胞相互作用的新篇章。软件自动地通过数据库确定与细胞粘附力相关的重要参数,包括最大粘附力、单个解折叠事件、tether性质和细胞分开所做的功。 CellHesion 200也能够通过在细胞表面施加一定的压力测量细胞表面不同位置的细胞力学性质如细胞弹性或硬度,用户可以从软件中调出杨氏模型进行细胞响应的计算。技术参数:CellHesion 200-单分子精确度的定量测量细胞粘附力和对外加机械压力的响应 1. 创新的平台用于测量从单个分子到整个细胞的细胞粘附性/细胞力学研究2. 与蔡司Axiovert 200/Axioobserver、尼康TE 20000、奥林巴斯IX 70/71/80和莱卡DM 4000/5000/6000等倒置显微镜完全相容可用于联合实验 3. 可配合所有主要的光学显微镜技术如DIC和相对比(phase contrast)或荧光和共聚焦技术如TIRF、FRAP、LSM等 4. 通过高速电容传感器回馈的闭环控制,超过110 μm移动距离的悬臂传感器抬升系统 5. 在BioCell中的盖玻片或PetriDishHeater中Wilco、BD、WPI的有/无玻璃底片的35 mm培养皿上进行温度控制、灌注和气体置换使活细胞在本体环境下研究 6. 与样品接触的所有部分可容易地清洗主要特点:1. CellHesion 200-完美地与光学系统整合 CellHesion 200能够非常方便并且完全地整合到包括蔡司、莱卡、尼康和奥林巴斯等科研型倒置显微镜中,这构成了一个强有力的复合仪器。表面荧光(EpiFluorescence)和激光共聚焦显微镜等技术可以与CellHesion 200系统同时使用。在进行CellHesion实验时同时用荧光技术如全内角反射荧光(TIRF)、激光共聚焦显微镜(CLSM)、光脱色荧光恢复技术(FRAP)或Ca2+影像观察目标细胞能够更直观地理解细胞粘附过程或细胞骨架动力学的分子机制。所有模式的光学透射照明技术如微分干涉(DIC)或相对比(phase contrast)能够互不干扰地同时使用,当将细胞移动到力传感器(悬臂)附近或检查样品安放情况时这种技术具有非常重要的意义。这些光学方法得到的结构信息能够与CellHesion 200测量得到的力谱数据叠加。 2. 环境控制 CellHesion 200是专门为活细胞研究的特殊需求而制作的。使用标准培养皿如有或无玻璃底片的35 mm培养皿或圆形盖玻片培养和操作细胞非常容易。15 ℃到60 ℃的温度控制、液体置换和CO2控制端口被整合到JPK公司PetriDishHeater 或为盖玻片设计的BioCell中,而CellHesion 200可以选择性地整合到已存在的模块中。与样品接触的所有装置都可以进行消毒处理。CellHesion 200提供足够的z轴移动距离保证可以操纵大细胞以及从基底分开粘附力非常强的细胞。

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这种情况也很罕见

  • 品牌: 德国JPK
  • 型号: JPK NanoWizard 4 BioScience
  • 产地:德国
  • 德国JPK公司(www.jpk.com)生产的NanoWizard生物型原子力显微镜专注于软物质与生物科学领域的,高解析成像, 其度独特的全针尖(XYZ)扫描设计方式提供了从微观光学显微镜观测到纳米尺度高清晰成像的完美衔接,同时与传统设计方法不同的是JPK公司的设计方式使得光学显微镜观测性能 与原子力显微镜的测量性能都不受影响,使得高分辨、原位、动态的原子力成像研究更加便捷。 NanoWizard原子力显微镜可实现高清晰的大气或溶液相成像、进行单分子或者细胞的拉力实验、进行精确的纳米操控与刻蚀。 100×100×15微米的扫描范围适用于生物细胞等大体积的样品,且平板扫描器规避了管式扫描器的缺点,采用电容式位置传感器实现xy平面精确的定位。 扫描器的设计方式兼容所有的显微镜的工作模式,如亮场、暗场、荧光等。采用探针扫描方式与防水设计,保证了在实验过程中压电陶瓷的安全。人性化的软件设计 使得操作更加方便、快捷、准确,且可通过脚本实现特定的实验需要。

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主张通过和平方式解决问题

  • 品牌:
  • 型号: XE7
  • 产地:韩国
  • Park XE7创新研究的经济之选无与伦比的高性能在同级产品中,Park XE7能够带来最高纳米级分辨率的测量效果。得益于独特的原子力显微镜架构,即独立的XY轴和Z轴柔性扫描器,XE7能够实现平滑、正交且线性的扫描测量,从而精确成像和测量样品的特征。此外,Park所独有的True Non-Contact模式还能为您带来前所未有的图像效果,探针可以在多次扫描后图像的分辨率仍不会受影响。满足当前和未来需求在Park XE7的帮助下,现在与未来皆在您的掌控中。Park XE7带有业内最全面的测量模式。这些模式不仅能满足您目前的需求,也考虑到未来不断变化的需求。再者,XE7具有市场上最为开放性的设计,允许您整合其他附件和仪器,从而满足您特殊的研究需求。易于使用和高生产率Park XE7拥有简洁的图形用户界面和自动化工具,即便是初学者也可以快速地完成对样品的扫描。无论是预准直探针、简单的样品和探针更换、轻松的激光准直、自上而下的同轴视角以及用户友好型扫描控制和软件处理,XE7能够全力推动研究效率的提高。。经济实惠超越了系统成本Park XE7不仅仅是最高性价比的研究级原子力显微镜,也是使用成本最低的原子力显微镜。Park XE7中所搭载的True Non-Contact模式让用户无需频繁更换昂贵的探针尖端,并且它配有业内最多的扫描模式,兼容性极佳,让您可随时升级系统功能,从而延长产品的使用寿命。Park XE7配有Park Systems的所有顶尖技术,而且价格十分亲民。XE7在细节的设计上也相当用心,是帮助您准确且不超预算地完成研究的理想之选。* 技术参数XY扫描器 闭环控制式单模块柔性XY扫描器。扫描范围: 50 μm × 50 μm (可选 100 μm×100 μm, 10 μm×10 μm )Z扫描器柔性引导高力度扫描器扫描范围: 12 μm (可选25 μm) 样品台 XY台工作范围: 13 × 13 mm Z台工作范围: 29.5 mm 聚焦台工作范围: 70 mm光学系统可观察样品和探针的直视同轴光学系统10X 物镜 (可选20X)视场: 480 × 360 μmCCD: 1M像素(像素分辨率: 0.4 μm) 电路系统高性能DSP : 600 MHz with 4800 MIPS最大图像尺寸: 4096 x 4096像素, 16个数据图像信号输入: 在500kHz取样时, 16位ADC的20个通道信号输出: 在500kHz取样时, 16位ADC的21个通道同步信号 :图像结束, 线结束及像素结束TTL信号主动Q控制(选配)悬臂梁弹性常数校准(选配)CE Compliant电源 : 120 W信号处理模块 (选配)

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一座新的孔雀台在原址上重新矗立起来

  • 品牌:
  • 型号: NX-20
  • 产地:韩国
  • 仪器简介: NX-20具有卓越的形貌表征能力,完善的设计使其保证了扫描的高精确度和数据的高重复性。高度自动化的软硬件,极大地避免了人为操作的失误和误差,提高了工作效率测量,降低了劳动强度。该仪器具备高速的伺服响应能力,超高的扫描器线性度,极低的闭环检测器噪声水平,和最小的系统热漂移量。作为一款界面友好,操作简便的仪器,NX-20会成为纳米研究领域及相关产业界的得力助手。技术参数:扫描器XY扫描器柔性制导闭环控制单模块扫描器扫描范围100μm*100μm(可选50μm*50μm)平面偏移度:<2nm(全量程扫描)Z扫描器柔性制导强力扫描器扫描范围15μm(可选30μm)定位检测噪声:0.03nm(带宽:1kHz)共振频率:>9kHz表面成像噪声:0.03nm样品台样品台种类:16位点样品台/150mm直径真空吸附台(可选200mm直径真空吸附台)样品尺寸: 150mm*150mm*20mm样品重量:最大500g样品台移动范围:150mm*150mm(可选200mm*200mm)主要特点:一、高精确性和高重复性● 探针几乎没有损耗,保证了图像的高分辨率● 非接触模式下最快的扫描速度● 独特的双路闭环解耦合XY平板式扫描器● 业内最小的系统漂移和迟滞二、低噪声检测器精确测量样品形貌●采用业界领先的低噪声检测器测量样品形貌● 消除了蠕变效应导致的边缘超调误差● 高速扫描过程中的精确形貌检测记录●业界领先的极小正反测量偏离量,小于0.15%三、Non-Contact(真正非接触) 模式极大降低了使用成本●相对于传统扫描模式,将探针寿命提高了10倍以上●极低的探针损耗极大地延长了探针高分辨扫描寿命●对样品几乎没有磨损

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修道院中有他的棺椁

  • 品牌:
  • 型号: NX-Bio 生物原子力显微镜
  • 产地:韩国
  • Park NX-Bio一个强大的三合一生物研究工具,将扫描离子电导显微镜(SICM)与原子力显微镜(AFM)和倒置光学显微镜(IOM)融合在同一平台上。Park NX-Bio的模块化设计允许您在SICM和AFM之间随意切换。在融合了SICM、AFM和IOM的生物-机械测量功能后,ParkNX-Bio这一非侵入性液体成像工具成为研究生理条件下生物材料的绝佳选择。扫描离子电导显微镜(SICM) 专门为液体成像的模块 生物组织3D成像原子力显微镜(AFM) 单分子高分辨率生物成像,实现真正非接触模式扫描活细胞室 最适温度、pH值和湿度控制,保证生物活性* 技术信息扫描离子电导显微术- 扫描离子电导显微镜(SICM)是新一代的生物显微镜扫描离子电导显微镜可在生理条件下获取纳米级生物图像,实现200 nm以下的高分辨率。但扫描离子电导显微镜所获取的生物图像不含有任何形态变形信息,而这正是扫描电子显微术(SEM)和原子力显微术(AFM)所无法避免的。- Park扫描离子导电显微术Park Systems所研发的扫描离子导电显微术(Park SICM)将装有电解质的纳米玻璃移液管(即纳米级的移液管)作为离子传感器,向系统反馈其与完全浸没在液体中的样品之间的相对位置。移液管尖端通过保持离子电流恒定来与样品保持距离。相比之下,原子力显微术十分依赖探针尖端与样品之间的作用力。原子力显微术使用超薄悬臂和尖端作为探针。Park SICM所使用的探针便是移液管,内径为80-100纳米(玻璃材质)或30-50纳米(石英材质)。- 液体无接触无作用力成像与室温中采用的扫描隧道显微术(STM)类似,Park SICM在成像时无需与液体中的样品接触。样品和移液管两端的电极会在周边的溶液间产生离子电流。传感器会测量电流强度,一般是随着移液管和样品之间的距离减少而减弱。该电流强度将用来监控两者之间的距离,以指导移液管和样品的位置,保持非接触状态。- Park SICM可成像任何类型的细胞 SICM可成像最柔软的细胞,例如神经元,而AFM则只适用于硬细胞表面,如肌肉细胞和骨细胞。 SICM可以无阻碍地获取神经元细胞内极其柔软和精密的结构。 SIC甚至可以成像悬浮的神经元网络原子力显微术- 高级的Park原子力显微术可实现精确的力-距离光谱扫描原子力显微术的力对距离(FD)光谱是一个十分有用的工具,可特征化各类型生物材料的生物机械属性。在力对距离(FD)光谱扫描中,悬臂尖端由Z轴扫描器的精确控制,在特定作用力下压入样品表面。行业领先的低噪声Z轴探测器可精确控制Z轴扫描器的移动,从而向样品表面施加正确的作用力,以便获取更精细的纳米牛顿级生物机械特征。- 弹性模量(杨格模量)计算,实现先进的生物机械属性测量根据准确的力对距离光谱数据,弹性模量(杨氏模量)可通过赫兹模型和Oliver模型自动计算。这两种计算方法内置在XEI数据分析软件中,能够强化力对距离曲线中生物机械数据的验证。 力对距离光谱测量探针尖端与样品之间的相互机械作用力。 力对距离曲线是通过将悬臂压入样品表面而获取的。 原子力显微镜下单根肌纤维的纳米力学- 弹性模量(杨格模量)计算,实现先进的生物机械属性测量根据准确的力对距离光谱数据,弹性模量(杨氏模量)可通过赫兹模型和Oliver模型自动计算。这两种计算方法内置在XEI数据分析软件中,能够强化力对距离曲线中生物机械数据的验证。 获取作用力所引起的样品变形深度(分离-力曲线) 使用赫兹模型计算杨氏模量

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每周定期训练

  • 品牌: 德国JPK
  • 型号: JPK Nanowizard NanoOptics
  • 产地:德国
  • 德国JPK公司生产的NanoWizard纳米光学原子力显微镜系统专注于纳米 尺度物质光学特性的研究。该系统提供了AFM与拉曼光谱,针尖增强拉曼光谱,孔-近场光学显微镜或散射式近场光学显微镜,共聚焦显微镜,纳米操控等结合领 域的综合解决方案。(More information: www.jpk.com)该解决方案是AFM与光学联用目前最完美的解决方案。原子力显微镜兼容目前四大厂牌的倒置显微镜(Zeiss,Nikon,Olympus,Leica)能够和倒置显微镜、拉曼光谱系统、光子计数系统完美结合超高的稳定性和最小的漂移设计能够进行长时间实验最高到6轴的闭环扫描的设计(结合TAO模块)基于盖玻片的样品池,可做气相、惰性气体、液相或电学相关连接门控单光子计数功能980nm的激光光源防止光学信号干扰各种工作模式或附件,比如音叉、STM、导电AFM,光纤SNOM等独特的光纤耦合探测单元用于外部的探测器(如PMT、APD等)NanoWizard纳米光学扫描头集成一光纤SNOM接口,且系统可进行散射式SNOM实验光学视野内的纳米操控可结合拉曼光谱仪进行拉曼光谱或针尖增强拉曼光谱学的研究,原子力系统能够连接HORIBA JOBIN YVON、Princeton Instruments、RENISHAW等厂牌的拉曼光谱仪能够结合先进的荧光技术和时域相关的单光子计数系统,比如Picoquant MicroTime200 FLIM系统

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宕桑旺波少爷是个重情义的人

  • 品牌:
  • 型号: NX-HDM
  • 产地:韩国
  • 毫无争议的最佳原子力显微镜-自动缺陷检查和表面粗糙度测量更高的通量,自动的缺陷检查对于媒介和基体领域的工程师而言,识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作。Park NX-HDM原子力显微镜系统可借助数量级实现自动缺陷识别、扫描和分析,从而加速缺陷检查过程。Park NX-HDM可与众多的光学检查工具直接连接,这意味着自动缺点检查通量大幅提高。次埃米表面粗糙度测量行业对于超平媒介和基体的要求越来越高,从而满足体积不断减小的设备需求。此外,Park NX-HDM拥有精确的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着行业最低的本底噪声和独特的True Non-Contact技术,Park NX-HDM毫无疑问是市面上表面粗糙度测量最精确的原子力显微镜。* 应用- 媒介和基体自动缺陷检查更高的通量,自动的缺陷检查NX-HDM的自动缺陷检查功能(Park ADR)可加速和改良识别、扫描和分析媒介和基体缺陷的流程。借助光学检查工具提供的缺陷位置图,Park ADR可自动定位这些位置并进行成像(分两步):(1)缩小扫描成像,以准确定位缺陷。(2)放大扫描成像,以获取缺陷的细节。在真实缺陷测试中,我们可以看到相比于传统的方法,该自动功能可将缺陷检查通量提高到10倍。自动搜寻式扫描和放大扫描经过优化的扫描参数让两步式扫描更为快速:(1)快速的低分辨率搜寻式扫描,以准确定位缺陷。(2)高分辨率的放大扫描,以获取缺陷的细节。扫描尺寸和扫描速度参数可调节,从而满足用户需求。缺陷坐标图自动传入和映射至原子力显微镜借助独有的先进映射算法,从自动光学检测(APO)工具中获取的缺陷坐标图可准确地传入和映射至Park NX-HDM。该技术让全自动高通量缺陷成像成为可能。光学检测工具的缺陷坐标图- 精确的次埃米表面粗糙度测量次埃米表面粗糙度测量行业对于超平媒介和基体的要求越来越高,从而满足体积不断减小的设备需求。此外,Park NX-HDM拥有精确的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着行业最低的本底噪声和独特的True Non-Contact技术,Park NX-HDM毫无疑问是市面上表面粗糙度测量最精确的原子力显微镜。* 技术特点全自动图形识别 借助强大的高分辨率数字CCD镜头和图形识别软件,Park NX-HDM让全自动图形识别和对准成为可能。自动测量控制自动化软件让NX-HDM的操作不费吹灰之力。测量程序针对悬臂调谐、扫描速率、增益和点参数进行优化,为您提供多位置分析。自动化软件会按照测量文件中预设的程序进行样品测量。Park的用户友好型软件界面让用户可灵活执行全系统功能。创建新测量文件只需要10分钟左右的时间,而修改现有的测量文件则需要不到5分钟的时间。Park NX-HDM具有:自动、半自动和手动模式各自动程序的可编辑测量方法测量过程实时监测自动分析所获取的测量数据二维柔性导引扫描器,超大的100 μm x 100 μm扫描范围XY轴扫描器含有对称的二维柔性和高强度压电叠堆,可在保持平面外运动最少的情况下,实现高正交运动以及纳米级样品扫描下的高响应度。闭环式XY轴扫描器带双轴伺服系统XY轴扫描器的各轴上配有两个对称的低噪声位置感应器,得以在最大的扫描范围和样品尺寸下保持高正交扫描。双感应器能够修正和补偿单感应器引起的非线性和非平面位置误差。高速Z轴扫描器,扫描范围达15 μm借助高强度压电叠堆和柔性结构,标准Z轴扫描器的共振频率高达9 kHz以上(一般为10.5 kHz)且探针的Z轴移动速率不低于48 mm/秒,让信息反馈更为准确。最大Z轴扫描范围可从标准的15 μm扩展至40μm(可选购的远距离Z轴扫描器)。低噪声XYZ轴位置传感器行业领先的低噪声Z轴探测器替代Z电压,作为样貌信号。此外,低噪声XY闭环扫描可将正向扫描和反向扫描间隙降至扫描范围的0.15%以下。行业最低的本底噪声为了检测最小的样品特征和成像最平的表面,Park推出行业本底噪声最低(< 0.5?)的显微镜。本底噪声是在“零扫描”情况下确定的。当悬臂与样品表面接触时,在如下情况下测量系统噪声:0 nm x 0 nm扫描范围,停在一个点0.5增益,接触模式256 x 256像素离子化系统离子化系统可有效地消除静电电荷。由于系统随时可生产和位置正离子和负离子之间的理想平衡,便可以稳定地离子化带电物体,且不会污染周边区域。它也可以消除样品处理过程中意外生成的静电电荷。

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灭六国大统一

  • 品牌: 德国JPK
  • 型号: Force Robot 300
  • 产地:德国
  • 德国JPK公司生产的ForceRobot力谱机器人专注于软物质与生命科学力谱分析领域,完全智能化的设计,使客户的试验工作简单、多次重复测试也能够保证试验高度精确与重复性,是做力谱分析及各类大分子、超分子交互作用测试等工作的首选!

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我忍不住又想起了秋天里美味的大闸蟹

  • 品牌:
  • 型号: NX10
  • 产地:韩国
  • Park systems NX10创新的功能满足创新的工作准确成像, 无交叉耦合现象-业界领先的XYZ轴线性度,样品和探针分别由独立的柔性制导扫描器控制移动-最低的平面偏移度,全程水平扫描时平面偏移量不超过1纳米-垂直扫描器全程伸缩时,线性度优于0.015%-优化的水平扫描器ringing现象, 科学的正向sine-scan算法准确扫描,真正的非接触模式-业界领先的垂直扫描器,带宽超过9kHz,探针垂直伺服响应速度超过62mm/sec-在非接触模式下最快的扫描速度-极低的探针磨损,能够保证长时间的高质量扫描-极低的样品损伤准确测量,真正的样品形貌-采用业界领先的低噪声迟滞检测器测量样品形貌-业界领先的极小正反测量偏离量,小于0.15%-采用优化的散热部件,极大地降低了系统热漂移和迟滞现象-功能强大的先进隔音罩,舱体内部主动控温用户工作效率-开放式的设计,方便更换探针和样品-探针预定位装夹设计,简单便捷的测量激光调节过程,具有专利的自上至下的直观观察系统-创新的“十秒进针”功能,探针可自动高速完成进针操作-24位数字电控箱,三组内置锁存放大器,具备Q-control和弹性常数校准功能* 技术参数XY扫描器 闭环控制式单模块柔性XY扫描器。扫描范围: 50 μm × 50 μm (可选 100 μm × 100 μm)分辨率: 0.05 nm定位检测噪音: < 0.3 nm (带宽: 1 kHz)水平线性: <2nm (over 40 μm scan)Z扫描器柔性引导高力度扫描器扫描范围: 15 μm (可选30 μm)分辨率: 0.015 nm定位检测噪音: 0.03 nm (带宽: 1 kHz)共振频率: > 9 kHz (typically 10.5 kHz)表面成像噪音: < 0.03 nm (0.02 nm typical)光学系统可观察样品和探针的直视同轴光学系统视场: 480 × 360 μm (10× objective lens)CCD: 1M像素(像素分辨率: 0.4 μm)物镜10x (0.21 NA) 超长工作范围的镜头(1 μm分辨率) 20x (0.42 NA) 高分辨率长工作范围的镜头(0.6 μm 分辨率)信号处理ADC: 18个通道 4 个高速 ADC 通道 (50 MSPS) X,Y和Z扫描器定位传感器的24-bit ADCsDAC: 12 信道 2 个高速 DAC 通道 (50 MSPS) X,Y和Z扫描器定位的20-bit DACs最大数据大小: 4096 x 4096 像素集成功能3个通道数字锁相放大器 热噪声法标定弹性系数 数码Q控制外部信号介入20个嵌入式信号输入/输出端口5个TTL输出: EOF, EOL, EOP, Modulation和AC bias

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这笔钱多半会被存入银行

  • 品牌: 德国JPK
  • 型号: JPK Nanowizard Ultraspeed
  • 产地:德国
  • 德国JPK公司(www.jpk.com)生产的NanoWizard Ultra Speed快速原子力显微镜专注于软物质,生命科学以及纳米材料领域的,高解析成像, 其度独特的全针尖(XYZ)扫描设计方式提供了从微观光学显微镜观测到纳米尺度高清晰成像的完美衔接,同时与传统设计方法不同的是JPK公司的设计方式使得光学显微镜观测性能 与原子力显微镜的测量性能都不受影响,使得高分辨、原位、动态的原子力成像研究更加便捷。 NanoWizard原子力显微镜可实现高清晰的大气或溶液相成像、进行单分子或者细胞的拉力实验、进行精确的纳米操控与刻蚀。 100×100×15微米的扫描范围适用于生物细胞等大体积的样品,且平板扫描器规避了管式扫描器的缺点,采用电容式位置传感器实现xy平面精确的定位。 扫描器的设计方式兼容所有的显微镜的工作模式,如亮场、暗场、荧光等。采用全探针扫描方式与防水设计,保证了在实验过程中压电陶瓷的安全。人性化的软件设计 使得操作更加方便、快捷、准确,且可通过脚本实现特定的实验需要。

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太后和皇上相视而望

  • 品牌:
  • 型号: 5500ILM
  • 产地:美国
  • 是德科技5500ILM AFM配有专用接口平台,可方便地将高精度AFM成像部件直接与各类倒置显微镜联用,从而实现多种显微手段同时成像,既可以得到光学的明场像、暗场像、荧光图或激光共聚焦图,又可以轻松获得原子力图像;对用一个样品的同一个位置同时原位得到高衬度的光学图和高分辨的AFM图,这是生命科学领域用户最心仪的显微解决方案。5500ILM AFM还具有很强的兼容性,可与各个厂商的倒置显微镜和激光共聚焦联用,也可支持FRET,暗场和明场成像多种光学附件功能。优势 AFM和光学(荧光)显微镜同时成像 独特的MAC模式和样品台设计,便于液态成像操作 特殊的结构设计,用户可直接调整样品台 真正模块化设计,大大提高系统的灵活性应用 生命科学 聚合物科学 纳米球

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时常关注食品方面的信息

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: Dimension FastScan
  • 产地:美国
  • Dimension FastScan 原子力显微镜 (AFM)在不损失Dimension Icon超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新,从根本上解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。为提高AFM使用效率和检测性能,Bruker开发了这套快速扫描系统,不降低分辨率,不增加操作复杂性,不影响仪器使用成本的前提下,帮助用户实现了利用Dimension快速扫描系统,即快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时,无论设置实验参数为扫描速度 > 125Hz,还是在大气下或者溶液中1秒获得一张AFM图像,都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。■采用最低热漂移的针尖扫描AFM技术,提高了系统的固有振动频率。■应用新的NanoScope控制器,为机器提供了更高的带宽。■开发了小悬臂的生产工艺,在空气中共振频率为1.3MHz,在液体中共振频率为250KHz到500KHz。■采用了低噪音的机械和电子的主要部件,结合高共振频率X-Y-Z扫描管,在技术上获得了重大突破。■更高的带宽提供了精确的力控制和高扫描速度,结合高精度的闭环控制,在效率上远远高于其它任何商业化的AFM。■以20Hz扫描速度进行TappingMode成像得到的图片的分辨率和以1Hz扫描速度得到的图片的分辨率一样高,即使使用更高的扫描速度>100Hz,图像分辨率同样不会降低。■在ScanAsyst模式中,使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片,即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。■Z方向,探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s,同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s, X-Y方向的跟踪误差<1%,真正使Fastscan成为了世界上第一台快速扫描AFM。■ 自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。■ 系统使用自带的样品导航软件MIRO,利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。最新的光学系统可以使用任何Bruker的探针,在不降低系统稳定性的前提下,得到最好的激光信号调节。■ 针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合,消除了样品尺寸的限制,同时维持了最低的噪音和热漂移水平。

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这样密集的测试表明

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: Dimension Icon
  • 产地:美国
  • 仪器简介:最新一代 Dimension系列 AFMDimension Icon 原子力显微镜(AFM)的性能、功能及附件等方面具有全新表现,在聚合物、半导体、能源、数据存储及材料领域的纳米研究中将会得到广泛应用。Dimension Icon是Dimension系列产品中的最新款设备,它基于世界上应用最广泛的AFM平台,集合了数十年的技术创新、行业内领先的应用定制及客户反馈等于一身。这个系统经过从上到下的设计,在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表现。技术参数:X-Y方向扫描范围:90um *90um典型值,最小85umZ方向扫描范围:10um典型值,在成像及力曲线模式下;最小9.5um垂直方向噪音基底:<30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽(达到625Hz)X-Y定位噪音(闭环):<0.15nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)X-Y定位噪音(闭环):<0.10nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)Z传感器噪音水平(闭环):<35pm RMS, 典型成像带宽(达到625Hz)整体线性误差(X-Y-Z):0.5% 典型值样品尺寸/夹具:210mm真空吸盘样品台,直径210mm, 厚度15mm电动定位样品台(X-Y轴):180mm*180mm可视区域;单向2um重复性;双向3um重复性。显微镜光学系统:五百万像素数字照相机 180um至1465um可视范围数字缩放及自动对焦功能控制器:NanoScope V型控制器工作台:整合所有控制器、结合人体工学设计,提供直接的物理或可视借口震动隔绝:整体式气动减震台声音隔绝:可隔绝环境中85 dBC的持续噪音主要特点:结合Veeco最新的行业领先的针尖-扫描AFM技术,Icon的温度补偿定位传感器使Z轴的的噪音水平达到亚-埃米级,X-Y方向达埃米级。在大样品台、90微米扫描范围系统的仪器当中,这种表现是非常突出的,优于绝大部分的开环、高分辨率AFM系统的噪音水平。Icon不仅具有非常好的分辨率,它还具备许多新的特性,以增加新老AFM用户操作仪器的便捷性及出图像速率: 专利设计的扫描管,实现闭环扫描功能同时,具有开环扫描管的噪音水平,在大样品AFM系统中实现前所未有的分辨率 全新设计的XYZ闭环扫描管,在不影响图像质量下具有非常高的扫描速度,具有非常快的数据采集能力 最新的NanoScope软件版本,提供直观的操作流程及默认实验模块,将复杂的AFM操作流程转化为预先设置 高分辨率的照相机及X-Y定位,实现更迅速、更有效的样品定位 完全开放的针尖及样品环境,适用于绝大部分的标准或定制实验 硬件及软件设置适用Veeco现有的及即将推出的所有模式及技术,包括现有的最先进的HarmoniX纳米材料性能成像模式布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频,观看最新的AFM产品和相关技术进展,以及历届网络研讨会和培训资料,精彩内容持续更新中!http://i.youku.com/u/UNDU0NDQ5MTEy布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室电话:010-68474806 -630 传真:010-88417855上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail:Sales.asia@bruker-nano.com 产品咨询热线:400-890-5666 www.bruker.cn\AFM

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执法人员现场责令酒店立即整改

  • 品牌:
  • 型号: Prima EC AFM
  • 产地:俄罗斯
  • EC AFM是在原子力显微镜样品台上安装电化学池,可以在纳米尺度进行电化学性能的研究。在电化学发生的同时,进行样品表面的形貌测试。1.安装电化学池非常便捷。2.开放的设计,允许用户进行改变。3.电化学池的设计,可以用于很宽范围样品的测试,包括不同样品的厚度,形状。可以配加热台和冷却台。4.可以用绝缘的介质防止电解液被污染。5.样品跟压电陶瓷扫描管分离,避免扫描器损坏。6.很宽的电极类型。 7.高分辨率(可以达到原子级别)。

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具体的酒店需要根据收客人数来确定

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: Dimension FastScan
  • 产地:美国
  • Dimension FastScan世界上扫描速度最快的原子力显微镜扫描速度的全新诠释,拥有最高的扫描分辨率,最优异的仪器检测性能 Dimension FastScanTM原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM),在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新,从根本上解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。 为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求,Bruker开发了这套快速扫描系统,不降低分辨力,不增加设备复杂性,不影响仪器操作成本的前提下,帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统,即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时,无论设置实验参数为扫描速度> 125Hz,还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像,都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。 高效率在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍,自动激光调节 和检测器调节,智能进针,大大缩短了实验时间。自动测量软件和高速扫描系统完美结合,大幅提高了实验数据 的可信度和可重复性。 高分辨率Fastscan精确的力控制模式提高图像分辨率的同时,延长了探针的使用寿命。扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像,扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。低噪音,温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。在任何样品上均有卓越表现闭环控制的Icon和FastScan的扫描管极大地降低了Z方向噪音,使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm,具有超低的热漂移率,可得到超高分辨的真实图像。Fast Scan可以对不同样品进行测量,保证高度从埃级到100多纳米的样品高精度无失真扫描。Dimension Fastscan是世界上第一台将扫描速度、分辨率、精确度和噪音控制完美结合的AFM,真正实现了快速扫描原子力显微镜的商业化应用。为了实现AFM扫描速度变革性的提升,Bruker的工程师致力于AFM技术的改造和完善。■采用最低热漂移的针尖扫描AFM技术,提高了系统的固有振动频率。■应用新的NanoScope控制器,为机器提供了更高的带宽。■开发了小悬臂的生产工艺,在空气中共振频率为1.3MHz,在液体中共振频率为250KHz到500KHz。■采用了低噪音的机械和电子的主要部件,结合高共振频率X-Y-Z扫描管,在技术上获得了重大突破。■更高的带宽提供了精确的力控制和高扫描速度,结合高精度的闭环控制,在效率上远远高于其它任何商业化的AFM。■以20Hz扫描速度进行TappingMode成像得到的图片的分辨率和以1Hz扫描速度得到的图片的分辨率一样高,即使使用更高的扫描速度>100Hz,图像分辨率同样不会降低。■在ScanAsyst模式中,使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片,即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。■Z方向,探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s,同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s, X-Y方向的跟踪误差<1%,真正使Fastscan成为了世界上第一台快速扫描AFM。■ 自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。■ 系统使用自带的样品导航软件MIRO,利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。最新的光学系统可以使用任何Bruker的探针,在不降低系统稳定性的前提下,得到最好的激光信号调节。■ 针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合,消除了样品尺寸的限制,同时维持了最低的噪音和热漂移水平。 AFM终极性能 Dimension FastScan AFM 优秀的分辨率,与Bruker特有的电子扫描计算方法相结合,提供给用户显著提升的测量速度与质量。Dimension Icon是我们工业领先的针尖扫描技术的最新革新,配置了温度补偿位置传感器,展现出Z轴亚埃级范围和XY轴埃级范围的噪音水平,这个惊人的性能出现在大样品台,34微米和90微米的扫描范围的系统上,尤胜高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ闭环扫描头的新设计也能展现较高扫描速度,而不损坏图像质量,实现更大的数据采集输出量。Icon 扫描管比当今市场上任何一款大样品台AFM具有更低的噪音水平和更高的精确度。这种革新与新的专利扫描和下针算法相结合,即使是在难测量的样品上也能得到更高的图像保真效果。 杰出的生产力 使用Dimension系列原子力显微镜发表的文章远比其他大样品台原子力显微镜要多。在科研和工业生产的过程研究中已成为一个标志性的符号。FastScan把此平台引入了更卓越的新水平,展现出更高的性能和更快地获得测量结果。其软件的直观工作流程,使其操作过程比以往最先进的AFM技术更加简便。可以使初学者在操作中,同样得到专家级的图像。Dimension FastScan用户可以立即获得高质量的结果,而无需像以前一样通常需要几小时的专业调整。Dimension FastScan的每个方面从完全开放式针尖样品空间,到预存软件参数设置都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的AFM操作简易性。每分钟低于200pm的热漂移速率,全新的直观用户界面,世界闻名的Dimension AFM平台,三者结合提供了无与伦比的AFM仪器性能,保证您在最短时间内得到测试结果并发表出版。 世界上最灵活的平台 Dimension FastScan 展现出的无与伦比的性能,坚固性和灵活度,使得这台仪器实现了以前只有在特制的系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台,大型多元样品支架和许多简单易用的性能,将AFM强大的功能完全展现在科研领域和工业领域的研究者面前,为高质量AFM 成像和纳米研究设定了新的标准。Dimension 系列原子力显微镜在不断演变提升,以迎合您不断增长的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力学、电学和电化学附件。 无与伦比的性能和多种附加模块满足您的一切科研需要 出众的性能满足各种应用需求 Dimension FastScan可同时高速捕捉多个通道的数据,获得更多通道的高质量数据。结合我们Bruker的很多AFM专利技术,模式和模式增强功能,Dimension FastScan以其独特的性能优势,帮助您完成更高水平的纳米研究。 材料成像 FastScan在使用ICON的扫描管的情况下支持Bruker的专利PeakForce QNMTM成像模式,在使用快速扫描扫描管的情况下可进行纳米力学成像。使用FastScan技术,大大减少了研究者获得高分辨率形貌和纳米力学图谱的时间。 纳米操纵 可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。FastScan的XYZ闭环扫描器解决了扫描管的蠕变效应,大大提高了操纵的精确度。同时超低噪音的精密探针的准确定位,适用于任何纳米操作系统。 加热和冷却 在以各种AFM 模式扫描的同时可实现-35℃到250℃的温度的精确控制和热分析。另外还可使用热探针对低于100nm的局部加热到500℃。 电学表征 使用专利的模式,可以在更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。PeakForce TUNA和PeakForce SSRM提供了独特的电学表征方法,同时还可以与样品上的力学属性相联系。 利用最短时间获得高质量可发表数据结果 无论是作为科研交流还是发表科学文章,Dimension FastScan可比以前快几十倍至上百倍获得专业精确的数据测量和高质量AFM图片。真正的快速扫描AFM系统使您能够运用简易方法对大量数据进行快速准确的处理分析。 样品筛选 利用AFM系统获取大量样品信,进行样品常规筛选。无论是材料生产中进行失效分析或纳米级的质量控制,及时的产品信息反馈是必不可少的产品质量控制过程。纳米表征面临提高表征速度的挑战时,高精准度成为必备条件。在获取药物配方的过程中需要大量的数据对其中的非晶药物成分进行筛选,这可能成为FastScan的一个新用途。 动态应用范例另一种常见的应用是观察一个纳米级物体在外部条件变化或受刺激的情况下,随着时间产生变化的过程。无论是在空气中还是在液体中,对纳米尺度的动态变化观察都是极具研究价值的。Dimesion FastScan为这种实验提供了极为便利的条件。布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频,观看最新的AFM产品和相关技术进展,以及历届网络研讨会和培训资料,精彩内容持续更新中!http://i.youku.com/u/UNDU0NDQ5MTEy布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail:Sales.asia@bruker-nano.com 产品咨询热线:400-890-5666 www.bruker.cn\AFM

招标信息

  • 青岛农业大学公开招标原子力显微镜 ,显微镜联用/湿度控制石英晶体微天平分析仪,细胞计数仪,落地恒温摇床,表面张力实验装置,界面流变仪 ,项目编号:SHZB2018-066

  • 山东大学公开招标超分辨率显微成像系统,项目编号:HYHA2017-1217

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